/

/

עדשה-פחות קומפקטי מיקרוסקופ הולוגרפי הדיגיטלי פיקוח MEMS ואפיון

JoVE Journal
Engineering

A subscription to JoVE is required to view this content. Sign in or start your free trial.

JoVE Journal Engineering

Compact Lens-less Digital Holographic Microscope for MEMS Inspection and Characterization

Please note that all translations are automatically generated. Click here for the English version.

עדשה-פחות קומפקטי מיקרוסקופ הולוגרפי הדיגיטלי פיקוח MEMS ואפיון

DOI:

10.3791/53630-v

•

10:28 min

•

July 05, 2016

•

Thomas Bourgade, Sun Jianfei, Zhaomin Wang, Rosmin Elsa, Anand Asundi²

¹School of Mechanical and Aerospace Engineering, Center of Laser and Optical Engineering,Nanyang Technological University, ²d’Optron Pte Ltd

Chapters

00:05Title
01:05Preparations
03:52Data Acquisition
05:38Data Analysis for Static Measurements
06:40Sample Preparation and Data Analysis for Dynamic Measurements
07:42Results: CDHM Compared to Atomic Force Microscopy and Other Results
09:17Conclusion

Summary

Automatic Translation

אנו מציגים מערכת הולוגרפית דיגיטלית קומפקטית השתקפות (CDHM) לבדיקה ואפיון של התקני MEMS. עיצוב-פחות עדשה באמצעות גל קלט לסטות מתן גדלה גיאומטרית טבעית מודגם. שני המחקרים סטטי ודינמי מוצגים.

Article

Embed

ADD TO PLAYLIST

Usage Statistics

Related Videos

נקודות קוונטיות קומפקטיות להדמית מולקולה בודדה

בנייה של מיקרוסקופ ברזולוציה גבוה עם יכולות קונבנציונליות והשמנה אופטיות הולוגרפי

Real-Time DC-דינמית הטיית שיטה להחלפת זמן שיפור בשולים בשדה קשות Underdamped תנעי MEMS אלקטרוסטטית

מטוס אחד תאורת מודול וגישת מיקרו-נימים למיקרוסקופ שדה רחב

אפיון מקיף של פגמים מורחבים סמיקונדקטור חומרים על ידי מיקרוסקופ סורק האלקטרוני

דפוס דיגיטלי של טיטניום דו-חמצני עבור לצבוע תאים סולריים רגישים

ייצור של 3D מערכות מיקרואלקטרו-מכניות פחמן (C-MEMS)

הפגנה של מיקרוסקופ משולבת Hyperlens וכן הדמיה ברזולוציה סופר

עיצוב, אפיון מתודולוגיה למסננים Tunable MEMS יעיל לטווח רחב

אפיון חומרים קצב למתח ביניים עם המתאם תמונה דיגיטלי

Read Article