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Compact numérique Holographic Microscope pour les MEMS Inspection et caractérisation de Lens-moins
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Chapters
- 00:05Title
- 01:05Preparations
- 03:52Data Acquisition
- 05:38Data Analysis for Static Measurements
- 06:40Sample Preparation and Data Analysis for Dynamic Measurements
- 07:42Results: CDHM Compared to Atomic Force Microscopy and Other Results
- 09:17Conclusion
Nous présentons un système holographique numérique de réflexion compact (CDHM) pour l'inspection et la caractérisation des dispositifs MEMS. Une conception de lentille moins en utilisant une onde d'entrée divergente fournissant un grossissement géométrique naturelle est démontrée. Des études à la fois statiques et dynamiques sont présentées.
Tags
Compact Digital Holographic MicroscopeMEMS InspectionMEMS CharacterizationFull-field Optical MeasurementNon-contactReal-timeHigh-resolution3D MappingLens-lessCompactWafer InspectionMicro-opticsDiffractive OpticsBioimagingSilicon WaferGold Electrodes3D View SoftwareDMx 41BU02 CameraY800 Video FormatReflection Or Transmission Mode633 Nm Wavelength4.65 μm Pixel Size
