Journal
/
Engineering
/
Cu Atom Probe Tomografi Çalışmaları (In, Ga) Se<sub> 2</sub> Tahıl Sınırları
JoVE Journal
Engineering
A subscription to JoVE is required to view this content.  Sign in or start your free trial.
JoVE Journal Engineering
Atom Probe Tomography Studies on the Cu(In,Ga)Se2 Grain Boundaries
Please note that all translations are automatically generated. Click here for the English version.

Cu Atom Probe Tomografi Çalışmaları (In, Ga) Se<sub> 2</sub> Tahıl Sınırları

Türkçe

Automatically Generated

12,573 Views

•

09:51 min

•

April 22, 2013

DOI:

10.3791/50376-v

DOI:
10.3791/50376-v

•

09:51 min
April 22, 2013

•

1 Views
, , , , ,
1Department of Microstructure Physics and Alloy Design,Max-Planck-Institut für Eisenforschung GmbH, 2Zentrum für Sonnenenergie- und Wasserstoff-Forschung Baden-Württemberg ( ZSW )

Summary

Automatically generated

Bu çalışmada, bir cigs güneş pili en emici tabakanın tane sınırları eğitim için atom-prob tomografi tekniğinin kullanımını tanımlamak. Bilinen bir yapı ile istenilen tane sınırı içeren atomun prob ipuçları hazırlamak için yeni bir tedavi yaklaşımı da burada sunulmuştur.

Explore More Videos

Atom Probe TomographyCu(InGa)Se2Grain BoundariesNanoscale CharacterizationSite-specific Sample PreparationFocused-ion-beamElectron Backscatter DiffractionTransmission Electron MicroscopyThin-film Solar Cells

Read Article

Cite this Article

Cojocaru-Mirédin, O., Schwarz, T., Choi, P., Herbig, M., Wuerz, R., Raabe, D. Atom Probe Tomography Studies on the Cu(In,Ga)Se2 Grain Boundaries. J. Vis. Exp. (74), e50376, doi:10.3791/50376 (2013).

Download .ris file

Copy

Share Video

.

Copy