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Atomsondentomographie Studien über die Cu (In, Ga) Se<sub> 2</sub> Grain Boundaries
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Atom Probe Tomography Studies on the Cu(In,Ga)Se2 Grain Boundaries
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Atomsondentomographie Studien über die Cu (In, Ga) Se<sub> 2</sub> Grain Boundaries

Deutsch

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12,573 Views

•

09:51 min

•

April 22, 2013

DOI:

10.3791/50376-v

DOI:
10.3791/50376-v

•

09:51 min
April 22, 2013

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1Department of Microstructure Physics and Alloy Design,Max-Planck-Institut für Eisenforschung GmbH, 2Zentrum für Sonnenenergie- und Wasserstoff-Forschung Baden-Württemberg ( ZSW )

Summary

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In dieser Arbeit beschreiben wir die Verwendung der Atom-Sonde Tomographie Technik für die Untersuchung der Korngrenzen der Absorberschicht in einer CIGS-Solarzelle. Ein neuartiger Ansatz, um die Atomsonde Tipps, die das gewünschte Korngrenzen mit einer bekannten Struktur vorzubereiten ist auch hier vorgestellt.

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Atom Probe TomographyCu(InGa)Se2Grain BoundariesNanoscale CharacterizationSite-specific Sample PreparationFocused-ion-beamElectron Backscatter DiffractionTransmission Electron MicroscopyThin-film Solar Cells

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Cojocaru-Mirédin, O., Schwarz, T., Choi, P., Herbig, M., Wuerz, R., Raabe, D. Atom Probe Tomography Studies on the Cu(In,Ga)Se2 Grain Boundaries. J. Vis. Exp. (74), e50376, doi:10.3791/50376 (2013).

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