Journal
/
Engineering
/
Atom Probe Tomografie Studies over de Cu (In, Ga) Se<sub> 2</sub> Korrelgrenzen
JoVE Journal
Engineering
A subscription to JoVE is required to view this content.  Sign in or start your free trial.
JoVE Journal Engineering
Atom Probe Tomography Studies on the Cu(In,Ga)Se2 Grain Boundaries
Please note that all translations are automatically generated. Click here for the English version.

Atom Probe Tomografie Studies over de Cu (In, Ga) Se<sub> 2</sub> Korrelgrenzen

Nederlands

Automatically Generated

12,573 Views

•

09:51 min

•

April 22, 2013

DOI:

10.3791/50376-v

DOI:
10.3791/50376-v

•

09:51 min
April 22, 2013

•

1 Views
, , , , ,
1Department of Microstructure Physics and Alloy Design,Max-Planck-Institut für Eisenforschung GmbH, 2Zentrum für Sonnenenergie- und Wasserstoff-Forschung Baden-Württemberg ( ZSW )

Summary

Automatically generated

In dit werk, beschrijven we het gebruik van het atoom-probe tomografie techniek voor het bestuderen van de korrelgrenzen van de absorptielaag in een CIGS zonnecel. Een alternatief middel om de atoom meetpennen die de gewenste korrelgrens met een bekende structuur te bereiden wordt hier gepresenteerd.

Explore More Videos

Atom Probe TomographyCu(InGa)Se2Grain BoundariesNanoscale CharacterizationSite-specific Sample PreparationFocused-ion-beamElectron Backscatter DiffractionTransmission Electron MicroscopyThin-film Solar Cells

Read Article

Cite this Article

Cojocaru-Mirédin, O., Schwarz, T., Choi, P., Herbig, M., Wuerz, R., Raabe, D. Atom Probe Tomography Studies on the Cu(In,Ga)Se2 Grain Boundaries. J. Vis. Exp. (74), e50376, doi:10.3791/50376 (2013).

Download .ris file

Copy

Share Video

.

Copy