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銅上のアトムプローブトモグラフィ研究（、ジョージア州）SE<sub> 2</sub>粒界

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Atom Probe Tomography Studies on the Cu(In,Ga)Se₂ Grain Boundaries

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銅上のアトムプローブトモグラフィ研究（、ジョージア州）SE<sub> 2</sub>粒界

12,573 Views

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09:51 min

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April 22, 2013

DOI:

10.3791/50376-v

DOI:

10.3791/50376-v

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09:51 min

April 22, 2013

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1 Views

Oana Cojocaru-Mirédin¹, Torsten Schwarz¹, Pyuck-Pa Choi¹, Michael Herbig¹, Roland Wuerz², Dierk Raabe¹

¹Department of Microstructure Physics and Alloy Design,Max-Planck-Institut für Eisenforschung GmbH, ²Zentrum für Sonnenenergie- und Wasserstoff-Forschung Baden-Württemberg ( ZSW )

Summary

本研究では、CIGS太陽電池の光吸収層の粒界を研究するための原子プローブ断層撮影技術の使用を記載している。公知の構造の所望の粒界を含むアトムプローブ·チップを製造するための新しいアプローチは、ここで提示される。

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