この研究は、原子分解能透過電子顕微鏡イメージングにおける原子位置追跡のワークフローを提示する。このワークフローは、オープンソースのMatlabアプリ(EASY-STEM)を使用して実行されます。
現代の収差補正走査型透過電子顕微鏡(AC-STEM)は、サブオングストローム分解能を有する原子カラムの直接可視化に成功しました。この大きな進歩により、高度な画像の定量と分析は未だ初期段階にあります。本研究では、原子分解能走査透過電子顕微鏡(STEM)画像の計測の完全経路を提示する。これには、(1)高品質のSTEM画像を取得するためのヒントが含まれます。(2) 測定精度を高めるための、非ノイズおよびドリフト補正(3) 初期原子位置の取得(4) 単位セルベクターに基づいて原子のインデックスを作成する。(5)原子列を2D-Gaussianシングルピークフィッティングまたは(6)少し重なっている原子列のためのマルチピークフィッティングルーチンのいずれかで原子列位置を定量化する。(7)結晶構造内または格子周期性が破壊される欠陥/インターフェースにおける格子歪み/歪みの定量化。(8)解析を視覚化して提示するいくつかの一般的な方法。
さらに、グラフィカルユーザーインターフェース(GUI)を備えたシンプルな自己開発無料MATLABアプリ(EASY-STEM)が提示されます。GUIは、専用の分析コードやソフトウェアを作成することなく、STEMイメージの分析を支援できます。ここに示す高度なデータ解析方法は、欠陥緩和、局所構造歪み、局所相変換、非中心対称性の局所的な定量化に適用できます。
現代の走査型透過電子顕微鏡(STEM)における球面収差補正の開発により、マイクロスコピストは、サブオングストロームサイズの電子ビーム1,2で結晶を探査することを可能にした。これにより、重い要素と軽い要素3、4の両方に対して解釈可能な原子分解能画像を持つ多種多様な結晶中の個々の原子カラムのイメージングが可能になった。画素化直接電子検出器およびデータ解析アルゴリズムの最近の進展により、ptychographyなどの位相再構成イメージング技術が可能になり、空間分解能のさらなる改善が午後30時頃、6、7となっている。さらに、STEM断層撮影における最近の進歩は、単一ナノ粒子8の三次元原子分解再構成を可能にした。電子顕微鏡は、高精度と部位特異性の両方で材料の構造特性を定量化するための非常に強力なツールとなっています。
超高解像度のSTEM画像をデータ入力として、構造歪みの直接測定を行い、原子スケール9,10で結晶から物理的情報を抽出した。例えば、WS2単層内のMoドーパントと単一のS空孔との間の欠陥結合を、原子位置を測定し、次いで投影結合長11を計算することによって直接可視化した。さらに、単層WS2における結晶界面上の測定は、単層WS2における合体粒子境界など、局所原子配置12を示すことができる。LiNbO3の強誘電体ドメイン壁に対して行われた界面解析により、ドメイン壁がイジング状態とニール状態13の組み合わせであることが明らかになった。別の例は、SrTiO 3-PbTiO3超格子で達成された極渦構造の視覚化であり、ストロンチウムおよび鉛カラム位置14に対するチタン原子カラム変位の計算によって達成される。最後に、非局所原理成分分析15による画像の脱明などのコンピュータビジョンアルゴリズムの進歩により、リチャードソンとルーシーの沈降16、非線形登録17によるドリフト補正、およびディープラーニングによるパターン認識により、サブピソメータ精度18に対する測定の精度が著しく強化されている。そのような例の1つは、シグナル対ノイズ比を高めるために、複数の高速スキャン極低温-STEM画像のアライメントと画像登録です。続いて、Fourierマスキング技術を適用し、周期格子歪み19を直接可視化して結晶中の電荷密度波を解析した。信じられないほどの収差補正されたSTEM計測器は、世界中の研究者にますますアクセス可能ですが、高度なデータ分析手順と方法は依然として珍しく、データ分析の経験がない人にとっては大きな障壁です。
今回の研究では、原子分解能のSTEM画像の計測の完全な経路を紹介しています。このプロセスには、まず収差補正顕微鏡でSTEM画像を取得し、続いて取得後の脱ノイズ/ドリフト補正を行い、測定精度を向上させることが含まれます。次に、原子柱20,21をわずかに重ね合わせるための2D-Gaussianシングルピークフィッティングまたはマルチピークフィッティングルーチンのいずれかで、原子列位置を明確に解決し、正確に定量化する既存の方法についてさらに議論する。最後に、このチュートリアルでは、結晶構造内の格子歪み/歪みの定量方法、または格子周期が乱される欠陥/インタフェースでの方法について説明します。また、専用の分析コードやソフトウェアを書くことなく、STEM画像の分析に役立つグラフィカルユーザーインターフェース(GUI)を備えた簡単な自己開発無料MATLABアプリ(EASY-STEM)を紹介します。ここに示す高度なデータ解析方法は、欠陥緩和、局所構造歪み、局所相変換、非中心対称性の局所的な定量化に適用できます。
取得後の処理に取り組む場合は、注意が必要です。まず、画像のドリフト補正中に、アルゴリズムは0°画像が水平高速スキャン方向を持つものと仮定するため、計算の前に方向を再確認します。スキャン方向が正しく設定されていない場合、ドリフト補正アルゴリズムは失敗し、出力17にアーティファクトが生じる可能性があります。次に、イメージングのノイズ化中に、特定の方法でアーティファクトを導入する可能性があります。たとえば、フーリエ フィルタリングでは、空間解像度が適切に制限されていない場合、空室サイトでアトム列のコントラストを作成したり、画像内の微細なフィーチャを削除したりできます。その結果、ノイズ除去された画像が元の生の入力イメージに近いかどうかを確認することが極めて重要です。
次に、ローカルの最大値/最小に基づいて初期原子位置を決定する場合、アトミック列間の冗長な位置を作成しないように、ピーク間の制限最小距離を調整してみてください。これらの冗長な位置は、アルゴリズムが誤ってイメージ内のローカルの最大/最小値を原子列として認識するために生成されるアーティファクトです。さらに、画像内の様々な原子種間に大きなコントラスト差がある場合(例えば、WS2のADF-STEM画像)の位置の大部分を見つけるためにしきい値を調整することができる。イメージの初期アトミック位置のほとんどを取得した後、不足しているものを手動で追加するか、または最善の努力で余分なものを削除してみてください。また、画像内の周期性に大きな中断がない場合には、原子のインデックス化方法が最も効果的である。画像に表示される粒子境界や位相境界などの中断がある場合、インデックス化が失敗することがあります。この問題の解決策は、画像内の対象領域を定義し(EASY-STEMアプリで [対象領域の定義 ]ボタンをクリック)、各領域内の位置を個別にインデックス化して絞り込みます。その後、同じ画像内の異なる領域のデータセットを 1 つのデータセットに簡単に結合し、解析に取り組むことができます。
最後に、2D-Gaussian のピーク 継手を適用した後、入力イメージに微調整された位置ポイントを分散して、適合結果を検証し、精製された位置が原子列から逸脱しているかどうかを確認します。単一のガウスフィッティングアルゴリズムによって提供される精度は、ほとんどのSTEM実験で十分です。しかし、隣接する原子からの強度により位置が逸脱する場合は、マルチピークフィッティング(mpfit)アルゴリズムを使用して、隣接する原子列21から強度を分離する。それ以外の場合、特定の原子列から画質の問題や低強度に起因する位置が逸脱した場合、その位置で適合位置を破棄することが示唆される。
原子位置測定のためのいくつかの既存の特殊なアルゴリズムがあり、例えば、酸素オクタヘドラピッカーソフトウェア22、Atomapパイソンパッケージ23、およびStatSTEM Matlabパッケージ24。ただし、これらのアルゴリズムには、特定の面でいくつかの制限があります。例えば、酸素オクタヘドラピッカーは、明らかに解決された原子列のみを含むSTEM画像の入力を必要とし、したがって強度21を重ね合う原子列を有する画像の問題に対処できなかった。一方、Atomapは「ダンベルのような」原子列の位置を計算できますが、このプロセスはあまり簡単ではありません。さらに、StatSTEM は重複する強度を定量化するための優れたアルゴリズムですが、反復モデルベースのフィッティングプロセスは計算上高価な21 です。対照的に、高度なmpfitアルゴリズムと統合されたMatlabアプリEASY-STEMと共にこの研究で導入された当社のアプローチは、重なり合う強度の問題に対処することができ、競争力のある測定精度を提供しながら、StatSTEMよりも計算上コストが低い。さらに、Atomapおよび酸素八面体ピッカーソフトウェアパッケージからの分析は、ABO3 ペロブスカイト結晶からのデータを分析するために設計され、特殊化されていますが、この研究で示されているインデックスシステムは、さまざまな材料システムについてはるかに柔軟です。この方法を使用すると、ユーザーは、洗練された原子位置とユニットセルベクトルインデックスの両方を含む出力結果に基づいて、独自の材料システムのデータ分析を完全に設計し、カスタマイズすることができます。
図6: 原子位置発見の統計的定量法. (a ) ヒストグラムで提示されたペロブスカイトAサイトからAサイトまでの距離の分布正規分布フィッティングは、午後300.5時の平均と4.8pmの標準偏差を示す赤い破線としてプロットされ、重ね合わされます。正規分布継手は、90.0°の平均と1.3°の標準偏差を示す赤い破線としてプロットされ、重ね合わせられます。(c)Ca3Ru2O7(CRO)における極偏位測定の統計的定量をヒストグラムとして提示する。正規分布継手は、25.6 pmの平均と7.7 pmの標準偏差を示す赤い破線としてプロットされ、重ね合わされています。
ここで紹介するメソッドは、実装のためのピクメータレベルの精度とシンプルさを提供します。測定精度を実証するために、原子位置発見の統計的定量を 図6に示す。立方体ABO3 ペロブスカイトAサイト距離分布と単位細胞ベクトル角度分布の測定値は、それぞれ 図6a および 図6bのヒストグラムを用いてプロットされる。正規分布曲線を分布に合わせることによって、Aサイト距離分布は平均300.5 pmを示し、標準偏差は午後4.8時、単位セルベクトル角度分布は平均90.0°、標準偏差は1.3°を示します。統計的定量は、ここで提案された方法がピクメータレベルの精度を可能にし、イメージング中のドリフトによる歪みを大幅に軽減できることを示しています。この結果は、測定する物理的情報がおよそ午後10時以上である場合に、この測定が信頼できることを示唆しています。例えば、前述のCRO結晶の場合、極偏位の大きさの測定を 図6cに示す。測定は、午後7時の標準偏差である25.6pmの平均を示し、CRO STEM画像の極偏差測定が固体であることを示しています。また、ビーム感度サンプルを撮像する場合、低信号対雑音比などの実験上の制限がある場合は、より注意が必要です。そのような場合、測定された原子位置は、測定の妥当性を確認するために生画像に対して綿密に調べる必要があります。したがって、ここで紹介した解析方法は、より最近の高度なアルゴリズムと比較して、測定精度に限界があります。サブピコメータレベルで精度が必要な場合、この方法は不十分であるため、画像内で抽出される機能が一定の閾値を下回る場合は、より高度な解析ルーチンが必要です。例えば、非剛性登録アルゴリズムは、シリコン上でサブピソメーターの精密測定を示しており、単一のPtナノ粒子25上で結合長変動を正確に測定することが可能である。最近では、ディープラーニングアルゴリズムを用いて、膨大な量のSTEM画像データから2次元遷移金属ジカルコゲニド単層の様々なタイプの点欠陥を同定しました。その後、異なるタイプの欠陥の平均画像に対して測定を行い、この方法は、それらの欠陥18の周囲の歪みにサブピコメータレベルの精度を実証しました。そのため、分析能力を向上させる将来の計画として、ディープラーニングなどの高度なアルゴリズムの開発と実装が進んでいます。また、今後のデータ解析ツールの更新に統合することも試みています。
The authors have nothing to disclose.
L.MとN.A.の研究は、ペン州ナノスケール科学センター(助成金番号DMR-2011839(2020-2026)のNSF MRSECによってサポートされています。D.Mは、米国エネルギー省(DOE)のUT-Battelle(LLC)が管理するORNLの研究所主導型研究開発(LDRD)プログラムによって支援されました。A.CとN.A.は、空軍科学研究局(AFOSR)プログラムFA9550-18-1-0277とゲームMURI、10059059-PENNのサポートを認めています。
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