Se describe una configuración para las mediciones de corriente inducidas por haz de rayos X en líneas de haz sincrotron. Revela el rendimiento a nanoescala de las células solares y amplía el conjunto de técnicas para la microscopía de rayos X multimodal. Desde el cableado hasta la optimización de señal a ruido, se muestra cómo realizar mediciones XBIC de última generación en una microsonda de rayos X duro.
Las mediciones de corriente inducida por haz de rayos X (XBIC) permiten mapear el rendimiento a nanoescala de dispositivos electrónicos como las células solares. Idealmente, XBIC se emplea simultáneamente con otras técnicas dentro de un enfoque de microscopía de rayos X multimodal. Un ejemplo se da aquí combinando XBIC con fluorescencia de rayos X para permitir correlaciones punto por punto del rendimiento eléctrico con la composición química. Para la relación señal-ruido más alta en las mediciones XBIC, la amplificación de bloqueo juega un papel crucial. Mediante este enfoque, el haz de rayos X es modulado por un helicóptero óptico aguas arriba de la muestra. La señal eléctrica inducida por haz de rayos X modulada se amplifica y demodula a la frecuencia del helicóptero mediante un amplificador de bloqueo. Al optimizar la configuración del filtro de paso bajo, la frecuencia de modulación y las amplitudes de amplificación, el ruido se puede suprimir eficientemente para la extracción de una señal XBIC clara. Una configuración similar se puede utilizar para medir el voltaje inducido del haz de rayos X (XBIV). Más allá de las mediciones XBIC/XBIV estándar, XBIC se puede medir con luz de polarización o voltaje de polarización aplicado de tal manera que las condiciones de trabajo al aire libre de las células solares se pueden reproducir durante las mediciones in situ y en opera. En última instancia, la evaluación multimodal y multidimensional de los dispositivos electrónicos a escala nanométrica permite obtener nuevos conocimientos sobre las complejas dependencias entre la composición, la estructura y el rendimiento, lo que es un paso importante para resolver los materiales» Paradigma.
En un mundo donde la demanda de energía eléctrica está en constante aumento, una fuente de energía limpia y sostenible es cada vez más necesaria. Una posibilidad para hacer frente a estas demandas son los sistemas fotovoltaicos (PV)1,2,3. Para una forma dirigida y eficiente de desarrollar células solares de próxima generación, es necesario entender cómo la composición y la estructura de las células solares afectan a su rendimiento4. Las preguntas típicas en el desarrollo de células solares incluyen: ¿Qué tipos de defectos son más perjudiciales, y dónde se encuentran5,6? ¿Hay inhomogeneidades en la distribución elemental, y cuál es su impacto7,8,9? ¿Cómo cambian las células solares al montar el módulo y envejecer10,11?
Como una célula solar es tan buena como su parte más débil, es especialmente importante entender el efecto de la variación compositiva y estructural en el rendimiento de las células solares policristalinas que sufren intrínsecamente de inhomogeneidades7, 8. Esto es particularmente cierto para las células solares de película delgada (TF), que contienen capas absorbentes con tamaños de cristalito en el rango de micrómetros. Aquí, el efecto de los límites de grano en el rendimiento es de mayor interés, pero su pequeño tamaño y el hecho de que están enterrados en toda una pila de capas plantean desafíos de caracterización únicos. Además, la compleja química de las capas absorbentes multicomponente con fases coexistentes y gradientes internos requiere sofisticados métodos de caracterización12.
Los microscopios de rayos X duros basados en sincrotrones son capaces de hacer frente a los desafíos de caracterización de las células solares TF: proporcionan tamaños de punto sordente de rayos X hasta la escala de nanómetros13,14,15,16 y el profundidad de penetración de rayos X duros permite sondear las diferentes capas de dispositivos17,incluyendo capas absorbentes enterradas. Con una gran cantidad de diferentes técnicas de medición en un microscopio de rayos X de escaneo, es posible estudiar simultáneamente no sólo uno, sino muchos aspectos diferentes de las células solares dentro de mediciones multimodales y correlacionar las características observadas. Por ejemplo, las mediciones de corriente inducida por haz de rayos X (XBIC) se han combinado con éxito con fluorescencia de rayos X (XRF)7,18,19, luminiscencia óptica excitada por rayos X (XEOL)20, 21, y difracción de rayos X (RDX)22 para correlacionar el rendimiento eléctrico con la composición, el rendimiento óptico y la estructura, respectivamente23.
Durante las mediciones XBIC de células solares u otros dispositivos bajo prueba (DUT)24,25, los fotones de rayos X incidentes establecen duchas de partículas que consisten en electrones y fotones, lo que resulta en una multitud de pares de electrones-agujero excitados por fotones de rayos X incidentes en el material absorbente semiconductor. Finalmente, los pares de electrones-agujero se thermalizan a los bordes de la banda del absorbedor de células solares. Por lo tanto, estos portadores de carga excitados por rayos X pueden ser tratados como portadores de carga que son generados por la absorción de fotones con energías justo por encima de la banda durante el funcionamiento normal de la célula solar, y la corriente o voltaje resultante se puede medir como rayos X corriente inducida por haz23,26,27 o voltaje (XBIV)28,29 similar a mediciones más comunes como corriente inducida por haz de electrones (EBIC) o corriente inducida por haz láser (LBIC). En consecuencia, la señal XBIC/XBIV no sólo depende del grosor de la capa absorbente, sino también del rendimiento eléctrico del DUT, tanto a nivel microscópico como macroscópico, incluyendo la banda local, la división a nivel fermi y la recombinación. Por lo tanto, somos capaces de mapear las variaciones locales de la eficiencia de la colección de portadora de carga que se define como la probabilidad de que un par de electrones-agujero excitado externamente en la capa absorbente se recoja en los contactos eléctricos del DUT.
Tenga en cuenta que sólo los pares de electrones-agujero que se generan en la capa absorbente del DUT contribuyen a la señal XBIC/XBIV. Los portadores de carga generados en otras capas como los contactos metálicos o el sustrato se recombinen inmediatamente, ya que no tienen posibilidad de ser separados por la unión. Por lo tanto, otras capas sólo afectan a las mediciones XBIC/XBIV a través de efectos secundarios como la absorción de rayos X parásitos o la emisión de fotones secundarios y electrones que pueden ser reabsorbidos en la capa absorbente. Por el contrario, todas las capas potencialmente contribuyen a la señal XRF.
Dado que las señales XBIC y XBIV pueden ser pequeñas (a menudo, las variaciones en el rango de subpicoampere y nanovoltios son de interés), las señales se entierran fácilmente en ruido. Por lo tanto, sugerimos utilizar la amplificación de bloqueo para extraer las señales XBIC y XBIV30. Para ello, el haz de rayos X entrante es modulado por un helicóptero óptico como se indica en la Figura 1. Esta modulación se traslada a la señal producida por el DUT. Antes de que la señal se introduzca en el amplificador de bloqueo (LIA), normalmente se utiliza un preamplificador (PA) para hacer coincidir la intensidad de la señal bruta con el rango del convertidor analógico a digital en la entrada del LIA digital. El LIA mezcla la señal de medición modulada con la señal de referencia. Mediante el empleo de un filtro de paso bajo, sólo las frecuencias cercanas a la señal de referencia se pasan a través y amplifican31. Esto permite una extracción efectiva de la señal XBIC o XBIV de un fondo ruidoso.
En el protocolo, introducimos los requisitos previos y los movimientos necesarios para tomar mediciones XBIC exitosas, incluyendo la señal bruta (corriente directa, CC) y la señal modulada (corriente alterna, CA). Más allá de describir los detalles técnicos, discutimos una configuración XBIC en el contexto de las mediciones multimodales en la línea de haz P06 en PETRA III13. Tenga en cuenta que, en comparación con la mayoría de los experimentos de laboratorio, el entorno de las cabañas en nanosondas de rayos X duros requiere una planificación y consideración particulares. Específicamente, las mediciones multimodales con resolución a escala de nanómetro desafían a los experimentalistas con una variedad de restricciones específicas. Por ejemplo, el ruido electrónico a menudo está presente con grandes amplitudes de motores piezoicos y otros equipos, como las fuentes de alimentación de los detectores. Además, es necesario organizar una multitud de dispositivos y detectores en una geometría optimizada sin interferir entre sí ni inducir vibraciones. Figura 1 representa una configuración típica para las mediciones XBIC en combinación con mediciones XRF y dispersión de rayos X de ángulo pequeño/ancho (SAXS/WAXS).
En este capítulo, analizamos en primer lugar la relevancia de los ajustes generales de medición XBIC con respecto al ruido (a) y la velocidad de escaneo (b). A continuación, ponemos las mediciones XBIC en el contexto de las mediciones multimodales y discutimos aspectos del daño inducido por haz de rayos X (c) y desafíos específicos relacionados con mediciones simultáneas de múltiples parámetros (d). Por último, comparamos las mediciones XBIC con las mediciones relacionadas utilizando haces de electrones y láser como sondas (e).
(a) Ruido y error
Aunque la amplificación de bloqueo permite una mayor relación señal-ruido en comparación con la amplificación directa, es fundamental evitar la introducción de ruido en todos los niveles como se ha subrayado repetidamente a lo largo de este manuscrito. Para más discusión, nos referimos a la literatura sobre la medición de pequeñas señales eléctricas42,43,44,45. Aunque los amplificadores de bloqueo de última generación se basan en el procesamiento de señal digital hoy en día, la mayoría de las estrategias para reducir el ruido mediante amplificadores de bloqueo analógicos siguen aplicándose.
En resumen, debe tenerse en cuenta que los cables son propensos a actuar como antenas y, por lo tanto, introducir ruido en el sistema. Esto es particularmente cierto en el entorno de las nanosondas de rayos X, donde los campos electromagnéticos fuertes son a menudo inevitables, sus fuentes pueden incluso permanecer desconocidas. Como consecuencia, los cables deben mantenerse lo más cortos posible y orientados de modo que se minimice el nivel de ruido inducido. El blindaje adicional de los cables de señal puede reducir aún más el nivel de ruido.
El contacto adecuado del DUT es igualmente importante para la minimización del ruido. Un método limpio y robusto con puntos de contacto pequeños es la unión de cables. Para las células solares TF, esto no siempre funciona debido a problemas de adhesión. Alternativamente, la cinta conductora basada en grafito, cobre o aluminio es adecuada para muestras más grandes. En muchos casos, los mejores resultados se obtienen con la aplicación manual de pintura plateada para poner en contacto con alambres finos de cobre, oro o platino al dispositivo. Mientras que la cinta y la pasta de grafito podrían no dar el mejor contacto, la pintura plateada puede cortocircuitar fácilmente el dispositivo y tiene que ser depositada con el máximo cuidado. La cinta de poliimida se puede utilizar para evitar cortocircuitos en el contacto frontal y posterior.
Tenga en cuenta que el diseño del cableado desde el contacto hasta el transporte de señales debe adaptarse a las condiciones de límite específicas de la línea de haz. Por ejemplo, el diseño representado en la Figura 1 con la señal preamplificada que se divide en el LIA y a los convertidores V2F es riesgoso, si los convertidores V2F se encuentran fuera de la cabaña. En este caso, el cable largo entre el preamplificador y el convertidor V2F puede captar el ruido que se transfiere al LIA. Por lo tanto, distinguimos tres casos de rutas de señal comunes para mediciones XBIC o XBIV:
Caso A: XBIC se mide con un preamplificador, y la señal CC/AC se divide después del PA como se muestra en la Figura1. En este caso, un desplazamiento de corriente se puede aplicar en el PA de modo que la señal sea siempre positiva, evitando la necesidad de registrar la señal positiva y negativa a través de dos convertidores V2F separados. Como inconveniente, esto reduciría el rango de aceptación de voltaje disponible en el LIA y conduciría a una sensibilidad reducida.
Caso B: Evitar la división de la señal preamplificada, que sólo es entrada a la LIA, se puede utilizar un demodulador adicional en el LIA con un filtro de paso bajo en el valor máximo (es decir, no bloquear la frecuencia de modulación) de modo que el demodulador adicional se puede utilizar en el LIA con un filtro de paso bajo en el valor máximo (es decir, no bloquear la frecuencia de modulación) de modo que el demodulador adicional se puede utilizar en el LIA con un filtro de paso bajo en el valor máximo (es decir, no bloquear la frecuencia de modulación) de modo que el demodulador adicional se puede utilizar en el LIA con un filtro de paso bajo en el valor máximo (esdecir, no bloquear la frecuencia de modulación) de modo que el demodulador adicional se puede utilizar en el LIA con un filtro de paso bajo en el valor la señal preamplificada se puede enviar eficazmente a la unidad DAQ como se muestra en la Figura 6A,E. En este caso, se puede aplicar un desplazamiento de tensión en la salida tanto a la señal de CA como de CC, evitando la necesidad de grabar la señal positiva y negativa a través de dos convertidores V2F separados. Esto no tiene inconvenientes importantes aparte de una reducción del rango de frecuencia disponible del V2F, que rara vez es limitante.
Caso C: XBIV se mide y la señal CC/AC se divide entre el DUT y el amplificador de bloqueo. En este caso, no se puede aplicar ningún desplazamiento de tensión en la señal de CC sin aplicar una tensión de polarización no deseada en el DUT, de modo que siempre se requieren dos convertidores V2F separados para las partes de señal positivas y negativas.
En todos los casos, donde las partes negativas y positivas de una señal se registran a través de dos convertidores V2F diferentes, la señal XBIC o XBIV total se obtiene como la diferencia entre el canal positivo y el negativo. Si un LIA con dos o más demoduladores está disponible, normalmente preferimos el caso B, ya que minimiza el cableado de la señal bruta y permite cambiar fácilmente entre mediciones XBIC y XBIV.
El error de las mediciones XBIC depende en gran medida del equipo y la configuración utilizado, de modo que no se puede dar ninguna cuantificación de errores aquí. El error absoluto es mayor de lo que uno podría esperar debido a errores experimentales y sistemáticos. Esto es particularmente cierto si la señal XBIC se convierte en eficiencia de cobro de carga mediante el escalado con una constante como se describe en el protocolo. Por ejemplo, la relación empírica entre el bandgap y la energía de ionización descrita por el valor de la unidad (véase Eq. 4) sufre de una dispersión significativa; Las mediciones de flujo de fotón a menudo no están disponibles con errores absolutos por debajo del 10%; y la estructura nanoscópica del DUT es poco conocida. Sin embargo, enfatizamos que la fuerza de las mediciones XBIC y XBIV amplificadas de bloqueo radica en la gran precisión relativa dentro de mapas o mediciones comparables.
(b) Velocidad de escaneo
En muchos modos de medición que se basan en la detección de fotones, como la dispersión de rayos X o X, la intensidad de la señal aumenta en la primera aproximación linealmente con el tiempo de adquisición, con una relación señal-ruido aumentada. Esto no es cierto para las mediciones XBIC, donde la ventana de posibles velocidades de escaneo no está dictada por las estadísticas de recuento, sino por consideraciones más complejas como la dinámica del portador y la estructura del dispositivo.
Sin embargo, las mediciones lentas con muchos períodos de señal modulada por píxel suelen conducir a la mejor relación señal-ruido en las mediciones XBIC amplificadas de bloqueo, y el sobremuestreo con suavizado durante el post-procesamiento (por ejemplo, binning o aplicando filtros) pueden reducir aún más los niveles de ruido si el tiempo de medición lo permite. Sin embargo, aparte de las consideraciones de rendimiento, las restricciones adicionales pueden establecer límites más bajos a la velocidad de medición, incluyendo: (1) degradación inducida por haz de rayos X (ver la siguiente sección), o cambios de muestra inducidos por el entorno durante el in situ las mediciones a menudo reducen el tiempo de permanencia permitido. (2) La deriva de la muestra y la reproducibilidad de los movimientos de la etapa pueden ser limitantes, especialmente para las mediciones a nanoescala. (3) Las variaciones del nivel de ruido electromagnético pueden ser sufdar por mediciones más rápidas. (4) Mientras que las mediciones de recuento de fotones se pueden normalizar fácilmente al flujo de fotones incidente, la señal XBIC (y más aún la señal XBIV) es sólo en cierta medida lineal al flujo de fotones incidente28. Por lo tanto, la normalización al flujo de fotones solo compensa parte de los efectos de la variación de flujo de fotones, y se debe evitar tomar mediciones XBIC (como mapas o series temporales) mientras que el flujo es variado. Esto es particularmente un problema cuando el anillo de almacenamiento se llena durante un mapa XBIC.
Si la velocidad de medición XBIC no se rige por otros modos de medición (véase la sección (d)), las mediciones XBIC se toman normalmente con la velocidad máxima que proporciona una relación señal-ruido satisfactoria. Los límites superiores a la velocidad de medición se indican mediante las siguientes restricciones: (1) Un límite superior fundamental a la velocidad de medición es el tiempo de respuesta del DUT. En última instancia, el tiempo de respuesta está limitado por el tiempo de cobro de carga. Para la mayoría de las células solares de película delgada con una vida útil de portadora de carga en el rango de nano o microsegundos, esto no es crítico, pero esto debe tenerse en cuenta para las células solares de silicio cristalino de alta calidad con una vida útil de varios milisegundos. Sin embargo, los efectos de capacitancia pueden aumentar el tiempo de respuesta también de las células solares TF de tal forma que puede limitar la velocidad de medición. (2) Las cuchillas giratorias del helicóptero que se utilizan para modular el haz de rayos X tienen límites de velocidad superiores. Dependiendo de su ubicación en el haz de rayos X, el tamaño del haz puede ser de hasta 1 mm de ancho, lo que define el período mínimo de la hoja. Si el helicóptero funciona en vacío, la frecuencia de rotación rara vez es limitante, igualando en algunos casos incluso la frecuencia de electrones-bunch. Sin embargo, el funcionamiento de los helicópteros a tales velocidades en vacío es un reto, de modo que la mayoría de los helicópteros se operan en el aire. En este caso, la velocidad de rotación está limitada por las vibraciones mecánicas y, en última instancia, por la velocidad de la parte más alta de la hoja que debe ser más pequeña que la velocidad del sonido. En nuestra experiencia, la frecuencia de corte se limita a menudo a 7000 Hz en el aire. (3) En muchos casos, el tiempo de respuesta del PA establece el límite superior de la velocidad de medición. Tal y como se muestra en de la Figura4, se requieren tiempos de subida rápidos del PA para traducir la modulación de la señal desde el helicóptero. Para una amplificación grande, se utilizan amplificadores de corriente de bajo ruido, que tienen tiempos de elevación de hasta 100 ms. Con tales tiempos de subida, la frecuencia de corte puede limitarse a pocos Hz, lo que requeriría tiempos de permanencia de varios segundos. Por lo tanto, la mejor estrategia es a menudo elegir una amplificación más baja por el PA con un tiempo de respuesta más rápido que coincida con la frecuencia de corte. Aunque esto se traduce en niveles de señal a ruido más pequeños después de la preamplificación, la amplificación de bloqueo a menudo todavía puede recuperar una señal modulada de alta calidad.
Por ejemplo, el PA utilizado proporciona un ancho de banda de más de 10 kHz para la amplificación en el rango de A/V, incluso para el ajuste de bajo ruido37. Esto permite cortar en el rango de kHz y velocidades de medición hasta el rango de 100 Hz con un filtro de paso bajo con una frecuencia de corte entre la frecuencia de escaneo y corte. Estas son condiciones de medición que utilizamos a menudo.
Para evitar artefactos de medición, es de vital importancia analizar la señal a lo largo de la cadena de amplificación: mientras que la limitación por el filtro de paso bajo de la LIA se puede detectar fácilmente como artefactos de línea en los mapas (manchando la señal XBIC a través de varios píxeles), la respuesta del sistema del DUT y pa requiere la inspección de la señal por un alcance, que se puede integrar en el LIA.
(c) Daño en la viga
El daño inducido por el haz de rayos X es un problema común y se ha discutido para muchos sistemas, desde muestras biológicas hasta células solares de silicio y detectores46,47. Aunque los semiconductores inorgánicos son generalmente más robustos contra la irradiación de rayos X en comparación con semiconductores orgánicos o sistemas biológicos, el daño inducido por el haz de rayos X también es común en las células solares de película delgada. Específicamente, hemos observado el daño inducido por haz de rayos X de células solares con CdTe, CIGS29,perovskita18y capas absorbentes orgánicos. Tenga en cuenta que la respuesta electrónica de DUT como las células solares es sensible a las concentraciones de defectos por debajo del nivel de ppm, donde la recombinación de portadora de carga afecta el rendimiento sin daño químico aparente.
Por lo tanto, generalmente se requiere probar la sensibilidad de un DUT al daño del haz. En la práctica, evaluamos la degradación inducida por el haz de rayos X de cualquier DUT antes de las mediciones XBIC reales, y establecemos condiciones que permiten que las mediciones sean las menos influenciadas por los efectos de degradación.
Existen diferentes estrategias para hacer frente al daño inducido por el haz de rayos X, pero lo que todos tienen en común es que tienen como objetivo reducir la dosis de radiación en un punto de medición antes de la evaluación del rendimiento allí. En otras palabras, el objetivo es evitar la degradación siguiendo el paradigma “medida más rápido que el DUT se degrada”. Las estrategias incluyen: (1) Utilizar tiempos de permanencia cortos. (2) Aumente el tamaño del paso, reduciendo la resolución de medición. (3) Reduzca la intensidad del haz de rayos X mediante filtros de atenuación. Dependiendo de la línea de haz y DUT, se pueden elegir diferentes enfoques o una combinación de los mismos. Por ejemplo, la falta de persianas rápidas o modos de escaneo de vuelo excluyen (1), y los perfiles de haz de rayos X de difusión amplia, como los generados por las placas de zona, pueden provocar una degradación significativa muy lejos de la posición del haz central.
Afortunadamente, la mayoría de los mecanismos de degradación solo conducen a una recombinación de portadora de carga mejorada localmente. Esto limita el efecto lateral de la degradación a la longitud de difusión de los portadores de carga, y las mediciones XBIC más alejadas de las áreas degradadas no se ven afectadas. Si, en cambio, los mecanismos de degradación conducen a la derivación local del DUT, otras mediciones XBIC se verían seriamente obstaculizadas. Para mantener la dosis de radiación depositada al mínimo, las mediciones críticas deben realizarse primero en un lugar nuevo y luego, los métodos hambrientos de fotones, como XRF, que son más indiferentes al daño del haz, pueden ser utilizados en el mismo lugar.
(d) Mediciones multimodales
La compatibilidad de XBIC con otros modos de medición permite la correlación directa punto por punto del rendimiento eléctrico con los parámetros evaluados simultáneamente23. Aquí, en breve discutimos la combinación de mediciones XBIC con mediciones XBIV, XRF, SAXS, WAXS y XEOL. La combinación con otros modos de medición como el rendimiento de electrones o la holografía se puede imaginar fácilmente, pero estos modos no son generalmente compatibles con las configuraciones o modos de las mediciones de escaneo.
Incluso si la disposición geométrica de detectores y muestras para la medición simultánea de XBIC, XBIV, XRF, SAXS, WAXS y XEOL es posible, hay aspectos fundamentales y prácticos que prohíben la evaluación simultánea de todos los modos.
(1) El estado de la célula solar prohíbe la medición simultánea de mediciones XBIC (circuito corto) y XBIV (circuito abierto). Como XEOL48,49 mide la recombinación radiativa de pares de electrones-agujero, una corriente medida de la célula solar (XBIC) sería un proceso competitivo. Por lo tanto, las mediciones XEOL se llevan a cabo típicamente bajo condición de circuito abierto, que es compatible con mediciones XBIV simultáneas.
(2) Si el daño de la viga es un problema para las mediciones XBIC o XBIV, no pueden combinarse con técnicas hambrientas de fotones como XRF o XEOL. Como regla general, los efectos de daño del haz son visibles primero en el rendimiento eléctrico (XBIC y XBIV) y el óptico (XEOL), siendo sensibles a la recombinación de la portadora de carga a través de defectos electrónicos. En segundo lugar, se producen daños estructurales (visibles en SAXS y WAXS), seguidos de la modificación de la composición visible en XRF.
(3) Aunque cortar el haz de rayos X es generalmente compatible con todos los modos de medición, puede conducir a artefactos: en primer lugar, el flujo de fotón integrado por píxel varía según el flujo integrado que pasa la rueda del helicóptero en un período. Este efecto se hace más grande con una relación menor entre el corte y la frecuencia de escaneo. En segundo lugar, la interacción entre la rueda del helicóptero y el haz de rayos X puede conducir a fotones dispersos, difractados y fluorescentes. En tercer lugar, el flujo de fotones integrado se reduce en un 50%, lo que es particularmente crítico para los modos de medición con hambre de fotones.
Como consecuencia de estas consideraciones, el esquema de medición ideal depende del DUT dado y de la priorización de los modos de medición. Sin embargo, a menudo es aconsejable comenzar con una medición optimizada para XBIC. Si se requiere XBIV amplificado de bloqueo, este suele ser el segundo análisis. De lo contrario, el helicóptero se puede quitar, y todas las demás mediciones, incluyendo XBIV estándar, se pueden realizar con un tiempo de permanencia más largo según sea necesario para la técnica más hambrienta de fotones. Idealmente, los datos XRF se miden durante todos los escaneos, lo que permite el registro de imágenes en el postprocesamiento para tener en cuenta la deriva de la muestra.
(e) Diferentes sondas para mediciones inducidas por haz
Existen sondas alternativas a los haces de rayos X para la evaluación del rendimiento eléctrico resuelto espacialmente de un DUT con ventajas y desventajas específicas. Por lo tanto, en la Tabla 2se ofrece una comparación cualitativa de XBIC con corriente inducida por haz de electrones (EBIC) y corriente inducida por haz láser (LBIC) medida en microscopios electrónicos o con configuraciones ópticas.
La generación de pares de electrones-agujeros por un láser se acerca más a la operación exterior de las células solares. Sin embargo, la resolución espacial de LBIC está fundamentalmente limitada por la longitud de onda del láser. Las mediciones EBIC ofrecen una mayor resolución espacial que normalmente está limitada por el radio de interacción del haz de electrones con el DUT. El principal inconveniente de las mediciones EBIC es su sensibilidad superficial, lo que dificulta la evaluación del rendimiento de la capa absorbente a través de la pila de capas o incluso en dispositivos encapsulados. Además, las superficies desiguales del DUT en combinación con efectos de emisión de electrones secundarios no lineales a menudo conducen a resultados EBIC distorsionados. Por el contrario, las mediciones XBIC apenas sufren de variaciones topológicas, ya que la mayoría de la señal se genera profundamente en el material a granel y los efectos de carga superficial se mitigan mediante la puesta a tierra adecuada.
Las tres técnicas inducidas por haces tienen en común que la inyección de carga es altamente inhomogénea, alcanzando el pico en la posición del haz. Como consecuencia, el exceso de concentración de portadora y la densidad de corriente se distribuyen de forma no homogénea. En una imagen simplificada, la mayoría de la célula solar opera en la oscuridad, y un pequeño punto opera a un alto nivel de inyección que puede alcanzar cientos de equivalentes solares para haces enfocados. La distribución a nivel de inyección depende no sólo del tamaño y la forma del haz, sino también de la energía del haz, la pila del dispositivo y la estructura de tiempo de la inyección. Hasta ahora, el haz de rayos X se ha tratado como un haz continuo, lo que se justifica para los procesos de recolección de portadoras de carga que son más lentos que los microsegundos. Sin embargo, los rayos X de origen sincrotrón consisten en pulsos de menos de 100 p con intensidades y frecuencia de pulso según el patrón de llenado del anillo de almacenamiento. Aunque no hemos notado ningún impacto del patrón de relleno en mediciones XBIC comparativamente lentas, el nivel de inyección a corto plazo depende de él. Por el contrario, se puede hacer uso de la estructura de tiempo de los rayos X: similar como se ha demostrado para XEOL21resuelto en el tiempo, se pueden imaginar mediciones XBIC o XBIV resueltas en el tiempo, o bloquear la señal XBIC/XBIV en la frecuencia del grupo de electrones.
Una discusión adecuada de las consecuencias de los niveles de inyección inhomogéneas requiere una simulación 3D completa de todos los parámetros pertinentes del haz y del dispositivo, incluida la convolución del nivel de inyección dependiente del tiempo con la movilidad 3D y la vida útil en el DUT, que está fuera del alcance de este manuscrito. Sin embargo, es conceptualmente lo mismo para todas las mediciones de corriente y voltaje inducidas por hace y nos referimos a la literatura que analiza la dependencia a nivel de inyección de las mediciones EBIC50 y LBIC51.
Las consecuencias negativas de la inyección de carga local pueden mitigarse experimentalmente mediante la aplicación de luz de polarización con la intensidad de 1 sol equivalente, y la excitación inducida por haz añadiendo sólo una cantidad insignificante de portadores de carga excesiva. En la práctica, este concepto está tecnológicamente limitado por la reserva dinámica de 100-120 dB en amplificadores de bloqueo de última generación, que corresponde a una relación señal-ruido de 105 a 106. Si bien esto es suficiente para dispositivos de tamaño comparable al tamaño del haz, no permite la aplicación de luz de polarización en niveles relevantes para dispositivos macroscópicos. La solución obvia es disminuir el tamaño de la muestra. Desafortunadamente, esto a menudo está limitado por efectos de borde eléctrico hasta varios cientos de micrómetros de la frontera de la muestra o puntos de contacto.
Tenga en cuenta también que se puede hacer uso de la dependencia a nivel de inyección de las mediciones XBIC: similar a EBIC y LBIC, la realización de series a nivel de inyección mediante la variación de la intensidad del haz de rayos X puede revelar información sobre los mecanismos de recombinación dominantes y la carga portadora de difusión52,53.
En conclusión, la profundidad de penetración de los rayos X combinado con la alta resolución espacial hace que XBIC sea la técnica más adecuada para estudiar el DUT con estructuras enterradas como células solares TF en un enfoque correlativo de microscopía. El radio de interacción de las mediciones XBIC suele ser menor que para EBIC, y la resolución espacial suele estar limitada por la longitud de difusión de los portadores de carga. El principal inconveniente de las mediciones XBIC es la disponibilidad limitada de nanosondas de rayos X.
The authors have nothing to disclose.
Reconocemos en gran medida a J. Garrevoet, M. Seyrich, A. Schropp, D. Br-ckner, J. Hagemann, K. Spiers, y T. Boese de los Deutsches Elektronen-Synchrotron (DESY) y A. Kolditz, J. Siebels, J. Fl-gge, C. medidas de apoyo en la línea de haz P06 en PETRA III, DESY; M. Holt, Z. Cai, M. Cherukara y V. Rose del Laboratorio Nacional de Argonne (ANL) para apoyar mediciones en la línea de viga 26-ID-C en la Fuente Avanzada de Fotones (APS) en ANL; D. Salomon y R. Tucoulou de la Instalación Europea de Radiación Sincrotrón (ESRF) para apoyar mediciones en la línea de haz ID16B en ESRF; R. Farshchi, D. Poplavkyy y J. Bailey de MiaSolé Hi-Tech Corp., y E. Avancini, Y. Romanyuk, S. B-cheler y A. Tiwari de los Laboratorios Federales Suizos de Ciencia y Tecnología de Materiales (EMPA) para proporcionar células solares. Reconocemos a DESY (Hamburgo, Alemania), miembro de la Asociación Helmholtz HGF, por la provisión de instalaciones experimentales. Reconocemos la Instalación Europea de Radiación Sincrotrón (Grenoble, Francia) para el suministro de instalaciones de radiación sincrotrón. Esta investigación utilizó recursos de la Advanced Photon Source, una Oficina de Usuarios de Ciencia del Departamento de Energía de los Estados Unidos (DOE, por sus aires) operada para la Oficina de Ciencia del DOE por el Laboratorio Nacional de Argonne bajo el Contrato No. DE-AC02-06CH11357.
BNC cabling and connectors | From generall cable suppliers | ||
Chopper blade | Thorlabs | MC1F10HP | Apart from technical compatibility of the chopper wheel with the chopper system, it should be checked that the chopper blade sufficiently blocks the X-ray beam. |
Conductive silver paint | Conrad | 530042 | Alternative products can be obtained from Pelco and others |
Copper wires | From cable suppliers for contacting of the solar cell | ||
Current Preamplifier | Standford | SR570 | Alternatives include the Keithley 487 or 6487 Picoammeter. |
Device under test (DUT) | Suitable device for XBIC measurements. | ||
Holder with printed circuit board | Custom design | ||
Kinematic sample mount | Thorlabs | KB25/M | Optional, allows easy positioning and changing of sample. Alternatives include the M-BK-1A from Newport |
Lock-in Amplifier | Zurich Instruments | UHFLI or MFLI | Whereas the MFLI has current preamplifiers included, the UHFLI requires an external current preamplifier but offers more options. Therefore, the UHFLI was used for the presented experiment. |
Measurement control/data acquisition unit | Available at different synchrotrons. | ||
Optical Chopper | Thorlabs | MC2000B(-EC) | Alternatives include the choppers SR540 from Stanford Research Systems, or model 3502 from Newport. |
Polyimide tape | Rolls with different widths and thicknesses are available | ||
X-ray source | Available at different synchrotrons |