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ウェーハスケール試験場におけるSiN統合光フェーズドアレイの特性評価
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Characterization of SiN Integrated Optical Phased Arrays on a Wafer-Scale Test Station

ウェーハスケール試験場におけるSiN統合光フェーズドアレイの特性評価

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April 01, 2020

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April 01, 2020

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ここでは、光相取アレイを含むSiN集積フォトニック回路の動作について述べます。回路は、近赤外線で低発散レーザービームを放出し、それらを2次元で操縦するために使用されます。

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