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Caractérisation des tableaux intégrés de phase optique de SiN sur une station d’essai à l’échelle des gaufrettes
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April 01, 2020
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Ici, nous décrivons le fonctionnement d’un circuit photonique intégré SiN contenant des tableaux optiques échelonnés. Les circuits sont utilisés pour émettre des faisceaux laser à faible divergence dans l’infrarouge proche et les orienter en deux dimensions.
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Tyler, N. A., Guerber, S., Fowler, D., Malhouitre, S., Garcia, S., Grosse, P., Szelag, B. Characterization of SiN Integrated Optical Phased Arrays on a Wafer-Scale Test Station. J. Vis. Exp. (158), e60269, doi:10.3791/60269 (2020).
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