Atoomkrachtmicroscopie (AFM) in combinatie met scanning elektrochemische microscopie (SECM), namelijk AFM-SECM, kan worden gebruikt om tegelijkertijd topografische en elektrochemische informatie met hoge resolutie te verkrijgen op materiaaloppervlakken op nanoschaal. Dergelijke informatie is van cruciaal belang voor het begrijpen van heterogene eigenschappen (bijv. reactiviteit, defecten en reactieplaatsen) op lokale oppervlakken van nanomaterialen, elektroden en biomaterialen.
Scanning elektrochemische microscopie (SECM) wordt gebruikt om het lokale elektrochemische gedrag van vloeistof/vaste, vloeistof/gas en vloeistof/vloeistof interfaces te meten. Atoomkrachtmicroscopie (AFM) is een veelzijdig instrument om micro- en nanostructuur te karakteriseren in termen van topografie en mechanische eigenschappen. Conventionele SECM of AFM biedt echter beperkte lateraal opgeloste informatie over elektrische of elektrochemische eigenschappen op nanoschaal. De activiteit van een nanomateriaaloppervlak op kristalfacetniveau is bijvoorbeeld moeilijk op te lossen met conventionele elektrochemiemethoden. Dit artikel rapporteert de toepassing van een combinatie van AFM en SECM, namelijk AFM-SECM, om elektrochemische activiteit op nanoschaal te onderzoeken bij het verkrijgen van topografische gegevens met hoge resolutie. Dergelijke metingen zijn van cruciaal belang voor het begrijpen van de relatie tussen nanostructuur en reactieactiviteit, die relevant is voor een breed scala aan toepassingen in materiaalwetenschap, levenswetenschappen en chemische processen. De veelzijdigheid van de gecombineerde AFM-SECM wordt aangetoond door het in kaart brengen van topografische en elektrochemische eigenschappen van respectievelijk gefacetteerd nanodeeltjes (NPs) en nanobubbles (NBs). In vergelijking met eerder gerapporteerde SECM-beeldvorming van nanostructuren maakt deze AFM-SECM kwantitatieve beoordeling van lokale oppervlakteactiviteit of reactiviteit mogelijk met een hogere resolutie van oppervlaktemapping.
Karakterisering van elektrochemisch (EC) gedrag kan kritische inzichten bieden in de kinetiek en mechanismen van interfaciale reacties op verschillende gebieden, zoals biologie1,2, energie3,4, materiaalsynthese5,6,7en chemisch proces8,9. Traditionele EC-metingen, waaronder elektrochemische impedantiespectroscopie10,elektrochemische geluidsmethoden11,galvanische intermitterende titratie12en cyclische voltammetrie13 worden meestal uitgevoerd op macroscopische schaal en bieden een oppervlaktegemiddelde respons. Het is dus moeilijk om informatie te verkrijgen over hoe elektrochemische activiteit over een oppervlak wordt verdeeld, maar oppervlakte-eigenschappen op lokale schaal in nanoschaal zijn vooral belangrijk wanneer nanomaterialen op grote schaal worden gebruikt. Daarom zijn nieuwe technieken die in staat zijn om tegelijkertijd zowel multidimensionale informatie op nanoschaal als elektrochemie vast te leggen zeer wenselijk.
Scanning elektrochemische microscopie (SECM) is een veelgebruikte techniek voor het meten van de gelokaliseerde elektrochemische activiteit van materialen op micro- en nanoschaal14. Meestal gebruikt SECM een ultramicro-electrode als sonde voor het detecteren van elektroactieve chemische soorten terwijl het een monsteroppervlak scant om lokale elektrochemische eigenschappen ruimtelijk op te lossen15. De gemeten stroom bij de sonde wordt geproduceerd door reductie (of oxidatie) van de mediatorsoort, en deze stroom is een indicator van de elektrochemische reactiviteit aan het oppervlak van het monster. SECM is aanzienlijk geëvolueerd na de eerste oprichting in 198916,17, maar het wordt nog steeds uitgedaagd door twee belangrijke beperkingen. Aangezien EC-signalen doorgaans gevoelig zijn voor tipsubstraatinteractiekenmerken, is een beperking van SECM dat het op een constante hoogte houden van de sonde een directe correlatie van elektrochemische activiteit met het oppervlaktelandschap voorkomt, als gevolg van de convolutie van topografie met de verzamelde EC-informatie18. Ten tweede is het moeilijk voor een commercieel SECM-systeem om een submicrometer (μm) beeldresolutie te verkrijgen, omdat de ruimtelijke resolutie gedeeltelijk wordt bepaald door de afmetingen van de sonde, die zich op de micrometerschaal19 bevindt. Daarom worden nano-elektroden, de elektroden met een diameter in het nanometerbereik, steeds vaker gebruikt in SECM om een resolutie te bereiken onder de submicrometerschaal20,21,22,23.
Om een constante tipsubstraatafstandsregeling te bieden en een hogere ruimtelijke elektrochemische resolutie te verkrijgen, zijn verschillende hybride technieken van SECM gebruikt, zoals ionengeleidingspositionering24,afschuifkrachtpositionering25,wisselstroom SECM26en atoomkrachtmicroscopie (AFM) positionering. Onder deze instrumenten is SECM integratie AFM positionering (AFM-SECM) een veelbelovende aanpak geworden. Omdat AFM vaste tipsubstraatafstanden kan bieden, maakt de geïntegreerde AFM-SECM-techniek het gelijktijdig verkrijgen van nanoschaal oppervlakte structurele en elektrochemische informatie mogelijk door het in kaart brengen of monstervegen met de scherpe AFM-tips. Sinds de eerste succesvolle operatie van AFM-SECM door MacPherson en Unwin in 199627, zijn er aanzienlijke verbeteringen bereikt op het gebied van het ontwerp en de fabricage van sondes, evenals de toepassingen ervan op verschillende onderzoeksgebieden zoals elektrochemie in chemische en biologische processen. Afm-SECM is bijvoorbeeld geïmplementeerd voor het weergeven van composietmateriaaloppervlakken, zoals edelmetaal nanodeeltjes28, gefunctionaliseerde of maatvaste elektroden29,30en elektronische apparaten31. AFM-SECM kan de elektrochemisch actieve sites in kaart brengen vanuit de tipstroomafbeelding.
Gelijktijdige topografische en elektrochemische metingen kunnen ook worden bereikt met andere technieken zoals geleidende AFM32,33,34,35, elektrochemische AFM (EC-AFM)36,37 , 38 , 39, scanning ion conductance microscopie-scanning elektrochemische microscopie (SICM-SECM)24,40, en het scannen van elektrochemische celmicroscopie (SECCM)41,42 De vergelijking is besproken in een vergelijking tussen deze technieken. Het doel van dit werk was om SECM-AFM in te zetten om de elektrochemische mapping en meting van gefacetteerd kristallijne cuprous oxide nanomaterialen en nanobubbles in water te demonstreren. Gefacetteerd nanomaterialen worden op grote schaal gesynthetiseerd voor metaaloxidekatalysatoren in schone energietoepassingen, omdat de facetten met onderscheidende kristallografische kenmerken onderscheidende oppervlakte-atomaire structuren hebben en hun katalytische eigenschappen verder domineren. Bovendien hebben we ook het elektrochemische gedrag gemeten en vergeleken op de vloeistof/gas interfaces voor oppervlakte nanobubbels (NBs) op gouden substraten. NBs zijn bellen met een diameter van <1 μm (ook bekend als ultrafijne bellen)43, en ze roepen veel intrigerende eigenschappenop 44,45, waaronder lange verblijftijden in de oplossingen46,47 en een hoog rendement van gasmassaoverdracht46,48. Bovendien veroorzaakt de ineenstorting van NBs schokgolven en de vorming van hydroxylradicalen (•OH)49,50,51,52. We hebben de elektrochemische reactiviteit van zuurstof NBs gemeten in de oplossing om de fundamentele chemische eigenschappen van NBs beter te begrijpen.
In dit protocol is een gecombineerde AFM-SECM-techniek beschreven die multimodale beeldvorming met hoge resolutie mogelijk maakt. Deze techniek maakt het mogelijk om topografie tegelijkertijd in kaart te brengen met de SECM-stroom die wordt verzameld of in kaart gebracht op enkele nanodeeltjes of nanobubbels. Experimenten werden uitgevoerd met behulp van commerciële sondes. Deze sondes zijn ontworpen om chemische compatibiliteit te bieden met een breed scala aan elektrochemische omgevingen, elektrochemische prestaties, …
The authors have nothing to disclose.
Dit werk wordt gefinancierd door de National Science Foundation (Award Number: 1756444) via Biological & Environmental Interfaces of Nano Materials, het USDA National Institute of Food and Agriculture, AFRI project [2018-07549] en Assistance Agreement No. 83945101-0 toegekend door de U.S. Environmental Protection Agency aan New Jersey Institute of Technology. Het is niet formeel herzien door de EPA. De standpunten in dit document zijn uitsluitend die van de auteurs en komen niet noodzakelijkerwijs overeen met die van het Agentschap. EPA onderschrijft geen producten of commerciële diensten die in deze publicatie worden genoemd. De auteurs bedanken ook Undergraduate Research and Innovation program (URI) Phase-1 & Phase-2 aan het New Jersey Institute of Technology.
Equipment | |||
Atomic force microsopy | Bruker, CA | Dimenison Icon | |
Bipotentiostat | CH Instruments, Inc. | CHI 700E | |
Materials | |||
Silicon wafer | TED PELLA, Inc. | 16013 | |
Fresh gold plates | Bruker, CA | model 119-017-307 | |
PF-SECM-AFM probes | Bruker, CA | 990-050138 | |
PF-SECM strain-release module | Bruker, CA | 840-012-724 | |
PF-SECM Probe Holder | Bruker, CA | 900-050121 | |
PF-SECM Chuck | Bruker, CA | PF-SECM Chuck | |
PF-SECM O-ring | Bruker, CA | 598-000-106 | |
PF-SECM cover glass, SECM Cell | Bruker, CA | 900-050137 | |
EC Cell Assy | Bruker, CA | 932-017-300 | |
ESD Field Service | Bruker, CA | 490-000-066 | |
PF-SECM Boot | Bruker, CA | 900-050136 | |
Spring connector block | Bruker, CA | 900-050524 | |
PFSECM Tweezers | Bruker, CA | ||
Cable, SECM Tip module | Bruker, CA | 468-050171 | |
Ag wire | Bruker, CA | 249-000-056 | |
Pt wire | Bruker, CA | 248-000-004 | |
Hard sharp wire | Bruker, CA | TT-ECM10 | |
Tubular ceramic membrane | Refracton | WFA0.1 | |
Chemicals | |||
Copper(II) chloride dihydrate | ACROS Organics | AC315281000 | |
Sodium Hydroxide | Fisher Chemical | S318-100 | |
Ascorbic Acid | Fisher Chemical | A61-25 | |
Epoxy | Loctite | Instant Mix | |
Potassium Chloride | Fisher Chemical | P217-500 | |
Hexaammineruthenium(III) chloride | ACROS Organics | AC363342500 |