Journal
/
Engineering
/
Analyse van Contact Interfaces for Single GaN Nanodraad Devices
JoVE Journal
Engineering
A subscription to JoVE is required to view this content.  Sign in or start your free trial.
JoVE Journal Engineering
Analysis of Contact Interfaces for Single GaN Nanowire Devices
Please note that all translations are automatically generated. Click here for the English version.

Analyse van Contact Interfaces for Single GaN Nanodraad Devices

DOI:
10.3791/50738-v

•

11:13 min

•

November 15, 2013

•

, ,
1Quantum Electronics and Photonics Division,National Institute of Standards and Technology

Chapters

  • 00:05Title
  • 01:32Wafer Preparation
  • 03:14Photolithography of Contact Pattern
  • 04:55Electron-beam Evaporation of Contact Metals
  • 06:29Contact Metal Lift-off and Annealing
  • 07:38Ni/Au Film Removal
  • 09:04Results: Annealed Ni/Au Films Removed with Carbon Tape
  • 10:45Conclusion

Summary

Automatic Translation

Automatic Translation

Een techniek ontwikkeld die Ni / Au contact metaal films verwijdert uit hun substraat te laten voor het onderzoek en karakterisering van het contact / substraat en contact / NW interfaces van enkele GaN nanodraad apparaten.

Tags

GaN NanowireContact InterfaceVoid FormationContact Metal RemovalNi/Au ContactsSiO2 SubstrateContact AdhesionContact MorphologyResidual Contamination

Article

Embed

ADD TO PLAYLIST

Usage Statistics

Related Videos

Monolayer Contact Doping of Silicon Surfaces and Nanowires Using Organophosphorus Compounds

Thermische Meettechnieken in Analytical Microfluïdische Devices

Pitloze groei van bismut Nanowire Array via Vacuum Thermische Verdamping

Oplosmiddel Bonding voor de productie van PMMA en COP microfluïdische apparaten

Scanning Light Scattering Profiler (SLPS) gebaseerde methodologie om kwantitatief te evalueren voorwaartse en achterwaartse lichtverspreiding van intraculaire objectieven

Stroom-bijgewoonde diëlektroforese: Een Low-Cost methode voor de fabricage van hoogwaardige oplossing-verwerkbaar Nanowire apparaten

Luchtdruk fabricage van grote en middelgrote enkellaags rechthoekig SnSe vlokken

Fabricage van refractieve-index-matched apparaten voor biomedische Microfluidics

Fabricage van robuust Nanoscale contact tussen een zilver Nanowire elektrode en CdS buffer Layer in Cu (in, ga) se2 dunne-film zonnecellen

Crack monitoring in resonantie Vermoeiingstesten van gelaste specimens met behulp van digitale beeld correlatie

Read Article