Journal
/
Engineering
/
קרן רנטגן המושרה מדידות נוכחיות עבור מיקרוסקופית רנטגן רב-מודאליים של תאים סולאריים
JoVE Journal
Engineering
This content is Free Access.
JoVE Journal Engineering
X-ray Beam Induced Current Measurements for Multi-Modal X-ray Microscopy of Solar Cells
Please note that all translations are automatically generated. Click here for the English version.

קרן רנטגן המושרה מדידות נוכחיות עבור מיקרוסקופית רנטגן רב-מודאליים של תאים סולאריים

עברית

Automatically Generated

13,323 Views

•

00:10 min

•

August 20, 2019

DOI:

10.3791/60001-v

DOI:
10.3791/60001-v

•

00:10 min
August 20, 2019

•

17 Views
, , , , , ,
1Deutsches Elektronen-Synchrotron, 2School of Electrical, Computer and Energy Engineering,Arizona State University, 3Department Physik,Universität Hamburg

Summary

Automatically generated

התקנה עבור קרן רנטגן המושרה מדידות הנוכחי ב סינכרוטרון beamlines מתואר. הוא חושף את הביצועים ננו-סולם של תאים סולריים ומרחיב את החבילה של טכניקות עבור מיקרוסקופ רנטגן רב מודאלי. מחיווט כדי מיטוב אות לרעש, הוא מוצג כיצד לבצע מדידות המדינה-of-the-art-מיקרו-מיקרודיקה קשה רנטגן.

Explore More Videos

X-ray Beam Induced Current (XBIC)Multi-modal X-ray MicroscopySolar CellsCharge Collection EfficiencySemiconductor DevicesSample HolderPrinted Circuit BoardSpatial ResolutionGroundingBeam Footprint

Read Article

Cite this Article

Ossig, C., Nietzold, T., West, B., Bertoni, M., Falkenberg, G., Schroer, C. G., Stuckelberger, M. E. X-ray Beam Induced Current Measurements for Multi-Modal X-ray Microscopy of Solar Cells. J. Vis. Exp. (150), e60001, doi:10.3791/60001 (2019).

Download .ris file

Copy

Share Video

.

Copy