Journal
/
Engineering
/
X-ray Beam geïnduceerde stroommetingen voor multimodale X-Ray microscopie van zonnecellen
JoVE Journal
Engineering
This content is Free Access.
JoVE Journal Engineering
X-ray Beam Induced Current Measurements for Multi-Modal X-ray Microscopy of Solar Cells
Please note that all translations are automatically generated. Click here for the English version.

X-ray Beam geïnduceerde stroommetingen voor multimodale X-Ray microscopie van zonnecellen

Nederlands

Automatically Generated

13,323 Views

•

00:10 min

•

August 20, 2019

DOI:

10.3791/60001-v

DOI:
10.3791/60001-v

•

00:10 min
August 20, 2019

•

17 Views
, , , , , ,
1Deutsches Elektronen-Synchrotron, 2School of Electrical, Computer and Energy Engineering,Arizona State University, 3Department Physik,Universität Hamburg

Summary

Automatically generated

Een Setup voor X-Ray Beam geïnduceerde stroommetingen bij Synchrotron lijnen wordt beschreven. Het onthult de nanoschaal prestaties van zonnecellen en breidt de reeks technieken uit voor multimodale X-Ray microscopie. Van bedrading tot signaal-naar-ruis-optimalisatie, het is te zien hoe u State-of-the-art XBIC metingen uitvoert op een harde X-Ray microprobe.

Explore More Videos

X-ray Beam Induced Current (XBIC)Multi-modal X-ray MicroscopySolar CellsCharge Collection EfficiencySemiconductor DevicesSample HolderPrinted Circuit BoardSpatial ResolutionGroundingBeam Footprint

Read Article

Cite this Article

Ossig, C., Nietzold, T., West, B., Bertoni, M., Falkenberg, G., Schroer, C. G., Stuckelberger, M. E. X-ray Beam Induced Current Measurements for Multi-Modal X-ray Microscopy of Solar Cells. J. Vis. Exp. (150), e60001, doi:10.3791/60001 (2019).

Download .ris file

Copy

Share Video

.

Copy