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Sonda de barrido de un solo electrón espectroscopia de capacitancia
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Scanning-probe Single-electron Capacitance Spectroscopy
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Sonda de barrido de un solo electrón espectroscopia de capacitancia

DOI:
10.3791/50676-v

•

10:53 min

•

July 30, 2013

•

, , , , ,
1Fizik ve Astronomi bölümü,Michigan State University, 2Department of Chemistry & Biochemistry/Physics,Mercyhurst University, 3'Fizik Bölümü',Saint Louis University, 4'Fizik Bölümü',Massachusetts Institute of Technology

'Bölümler'

  • 00:05'Başlık'
  • 01:57Microscope Setup, Preparation, and Mounting of the High Electron Mobility Transistor Circuit
  • 06:37Capacitance Mode Measurements
  • 08:05Results: Scanning Charge Accumulation and Capacitance-voltage Spectroscopy of Doped Semiconductors
  • 10:17Conclusion

Özet

'Otomatik Çeviri'

'Otomatik Çeviri'

Sonda de barrido espectroscopía capacitancia solo electrón facilita el estudio del movimiento de un solo electrón en regiones bajo la superficie localizados. Un circuito de carga-detección sensible se incorpora en un microscopio de sonda de barrido criogénico para investigar pequeños sistemas de átomos de dopante debajo de la superficie de las muestras de semiconductores.

'Etiketler'

Scanning-probeSingle-electronCapacitance SpectroscopyElectronic Quantum StructureSubsurface Charge Accumulation (SCA) ImagingSpatial ResolutionCharge ResolutionHEMTCryogenic Temperatures

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