'Dergi'
/
Mühendislik
/
Scanning-probe Single-electron Capaciteit Spectroscopie
JoVE Journal
Mühendislik
'Bu içeriği görüntülemek için JoVE aboneliği gereklidir.'  'Oturum açın veya ücretsiz deneme sürümünü başlatın.'
JoVE Journal Mühendislik
Scanning-probe Single-electron Capacitance Spectroscopy
Please note that all translations are automatically generated. Click here for the English version.

Scanning-probe Single-electron Capaciteit Spectroscopie

DOI:
10.3791/50676-v

•

10:53 min

•

July 30, 2013

•

, , , , ,
1Fizik ve Astronomi bölümü,Michigan State University, 2Department of Chemistry & Biochemistry/Physics,Mercyhurst University, 3'Fizik Bölümü',Saint Louis University, 4'Fizik Bölümü',Massachusetts Institute of Technology

'Bölümler'

  • 00:05'Başlık'
  • 01:57Microscope Setup, Preparation, and Mounting of the High Electron Mobility Transistor Circuit
  • 06:37Capacitance Mode Measurements
  • 08:05Results: Scanning Charge Accumulation and Capacitance-voltage Spectroscopy of Doped Semiconductors
  • 10:17Conclusion

Özet

'Otomatik Çeviri'

'Otomatik Çeviri'

Scanning-probe single-electron capaciteit spectroscopie vergemakkelijkt de studie van single-elektron beweging in gelokaliseerde ondergrond regio. Een gevoelige charge-detectieschakeling wordt opgenomen in een cryogene scanning probe microscoop kleine systemen doteringsatomen onderzoeken onder de oppervlakte van halfgeleider monsters.

'Etiketler'

Scanning-probeSingle-electronCapacitance SpectroscopyElectronic Quantum StructureSubsurface Charge Accumulation (SCA) ImagingSpatial ResolutionCharge ResolutionHEMTCryogenic Temperatures

Article

Embed

'ÇALMA LİSTESİNE EKLE'

Usage Statistics

'İlgili Videolar'

Hoekopgeloste foto-emissie spectroscopie bij ultralage temperaturen

Quantum State Engineering of Light met Continuous-wave optische parametrische oscillatoren

Onderzoekt Single Molecule Hechting van Atomic Force Spectroscopie

Surface Enhanced Raman Spectroscopy Detectie van biomoleculen met behulp van EBL Fabricated Nanostructured Substrates

Silicon metaal-oxide-halfgeleider Quantum Dots voor Single-electron Pumping

Resonantie Raman Spectroscopie van Extreme Nanodraden en andere 1D Systems

High Resolution Phonon ondersteunde Quasi-resonantie fluorescentiespectroscopie

Free-form Light Actuators - Fabricage en Controle van de Aandrijving in microscopische schaal

probing C<sub> 84</sub> Ingebedde Si-substraat met behulp van Scanning Probe Microscopy and Molecular Dynamics

Het toepassen van X-ray Imaging Crystal Spectroscopie voor gebruik als een High Temperature Plasma Diagnostic

Read Article