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マイクロ波光伝導減衰法による半導体中のキャリア ライフ タイム測定
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Ingénierie
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Ingénierie
Carrier Lifetime Measurements in Semiconductors through the Microwave Photoconductivity Decay Method
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Click here for the English version.
マイクロ波光伝導減衰法による半導体中のキャリア ライフ タイム測定
DOI:
10.3791/59007-v
•
07:38 min
•
April 18, 2019
•
Takato Asada
,
Yoshihito Ichikawa
,
Masashi Kato
2
1
Department of Electrical & Mechanical Engineering
,
Nagoya Institute of Technology
,
2
Frontier Research Institute for Material Science
,
Nagoya Institute of Technology
Chapitres
00:04
Titre
00:49
Preparation of the Sample and Aqueous Solutions
01:44
Preparation of the Measuring Equipment
03:36
Measurement and Data Processing
05:47
Results: Normalized and Calculated μ-PCD Decay Curves for the n-type 4H-SIC Sample in Air and Aqueous Solutions
06:29
Conclusion
Summary
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Türkçe (Turkish)
Traduction automatique
半導体の重要な物理パラメーターのひとつとして、キャリアの寿命をマイクロ波光伝導減衰法を用いたプロトコル経由で本測定します。
Tags
Carrier Lifetime
Semiconductor
Microwave Photoconductivity Decay
Micro-PCD
4H Silicon Carbide
Aqueous Solution
Pulsed Laser
Photodiode
Oscilloscope
Microwave Waveguide
Schottky Barrier Diode
Gun Diode
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