Journal
/
/
Cu Atom Probe Tomografi Çalışmaları (In, Ga) Se<sub> 2</sub> Tahıl Sınırları
Journal JoVE
Ingénierie
Un abonnement à JoVE est nécessaire pour voir ce contenu.  Connectez-vous ou commencez votre essai gratuit.
Journal JoVE Ingénierie
Atom Probe Tomography Studies on the Cu(In,Ga)Se2 Grain Boundaries

Cu Atom Probe Tomografi Çalışmaları (In, Ga) Se<sub> 2</sub> Tahıl Sınırları

DOI:

09:51 min

April 22, 2013

, , , , ,

Chapitres

  • 00:05Titre
  • 02:29Sample Fabrication for Atom Probe Tomography Analysis
  • 05:43Atom Probe Tomography Analysis in a CAMECA LEAP 3000X HR System
  • 06:31Reconstruction of Atom Probe Tomography Data
  • 07:13Results: Elemental Maps and Concentration Depth Profiles of a Grain Boundary
  • 08:38Conclusion

Summary

Traduction automatique

Bu çalışmada, bir cigs güneş pili en emici tabakanın tane sınırları eğitim için atom-prob tomografi tekniğinin kullanımını tanımlamak. Bilinen bir yapı ile istenilen tane sınırı içeren atomun prob ipuçları hazırlamak için yeni bir tedavi yaklaşımı da burada sunulmuştur.

Vidéos Connexes

Read Article