/
/
Atom Probe Tomografie Studies over de Cu (In, Ga) Se<sub> 2</sub> Korrelgrenzen
Un abonnement à JoVE est nécessaire pour voir ce contenu. Connectez-vous ou commencez votre essai gratuit.
Atom Probe Tomografie Studies over de Cu (In, Ga) Se<sub> 2</sub> Korrelgrenzen
12,573 Views
•
09:51 min
•
April 22, 2013
DOI:
Summary
Automatically generated
In dit werk, beschrijven we het gebruik van het atoom-probe tomografie techniek voor het bestuderen van de korrelgrenzen van de absorptielaag in een CIGS zonnecel. Een alternatief middel om de atoom meetpennen die de gewenste korrelgrens met een bekende structuur te bereiden wordt hier gepresenteerd.
Read Article
Cite this Article
Cojocaru-Mirédin, O., Schwarz, T., Choi, P., Herbig, M., Wuerz, R., Raabe, D. Atom Probe Tomography Studies on the Cu(In,Ga)Se2 Grain Boundaries. J. Vis. Exp. (74), e50376, doi:10.3791/50376 (2013).
Copy