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Atom Probe tomografias no Cu (In, Ga) Sé<sub> 2</sub> Contornos de grão
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Ingénierie
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Atom Probe Tomography Studies on the Cu(In,Ga)Se2 Grain Boundaries

Atom Probe tomografias no Cu (In, Ga) Sé<sub> 2</sub> Contornos de grão

DOI:

09:51 min

April 22, 2013

, , , , ,

Chapitres

  • 00:05Titre
  • 02:29Sample Fabrication for Atom Probe Tomography Analysis
  • 05:43Atom Probe Tomography Analysis in a CAMECA LEAP 3000X HR System
  • 06:31Reconstruction of Atom Probe Tomography Data
  • 07:13Results: Elemental Maps and Concentration Depth Profiles of a Grain Boundary
  • 08:38Conclusion

Summary

Traduction automatique

Neste trabalho, nós descrevemos o uso da técnica de tomografia por sonda átomo para estudar os limites dos grãos da camada de absorção de uma célula solar de CIGS. Também é apresentada uma nova abordagem para preparar as pontas das sondas que contêm o átomo de limite de grão desejado, com uma estrutura conhecida aqui.

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