Journal
/
Ingeniería
/
Transportør levetid målene på halvledere gjennom metoden mikrobølgeovn Photoconductivity forfall
JoVE Revista
Ingeniería
This content is Free Access.
JoVE Revista Ingeniería
Carrier Lifetime Measurements in Semiconductors through the Microwave Photoconductivity Decay Method

Transportør levetid målene på halvledere gjennom metoden mikrobølgeovn Photoconductivity forfall

DOI:
10.3791/59007-v

•

07:38 min

•

April 18, 2019

•

, ,
1Department of Electrical & Mechanical Engineering,Nagoya Institute of Technology, 2Frontier Research Institute for Material Science,Nagoya Institute of Technology

Capítulos

  • 00:04Título
  • 00:49Preparation of the Sample and Aqueous Solutions
  • 01:44Preparation of the Measuring Equipment
  • 03:36Measurement and Data Processing
  • 05:47Results: Normalized and Calculated μ-PCD Decay Curves for the n-type 4H-SIC Sample in Air and Aqueous Solutions
  • 06:29Conclusion

Summary

Traducción Automática

Traducción Automática

Som en av viktige fysiske parametere i halvledere måles bærer levetid her via en protokoll ansette metoden mikrobølgeovn photoconductivity forfall.

Tags

Carrier LifetimeSemiconductorMicrowave Photoconductivity DecayMicro-PCD4H Silicon CarbideAqueous SolutionPulsed LaserPhotodiodeOscilloscopeMicrowave WaveguideSchottky Barrier DiodeGun Diode

Article

Embed

Añadir a la lista de reproducción

Usage Statistics

Videos relacionados

Mikrobølgeovn Photonics Systems Basert på Whispering-gallery-mode Resonators

Måling av Coherence Decay i GaMnAs Bruke Femtosecond Fire-bølge Blanding

Bruke Mikrobølgeovn og makroskopiske Prøver av Transformator Solids å studere Photonic egenskaper Disordered Photonic bandgap Materials

Ambient Fremgangsmåte for fremstilling av en ionisk Lukket Carbon Nanotube Common Cathode i Tandem organiske solceller

Selektiv området Modifisering av Silicon Surface fuktbarhet av Pulsed UV Laser bestråling i flytende Miljø

Hvordan Ignite en Atmosfærisk trykk Mikrobølgeovn Plasma Torch uten noen ekstra Tennere

Artsdannelse og biotilgjengelighet Målinger av Miljø Plutonium Bruke Diffusion i Thin Films

Kvantifisering av hydrogen Konsentrasjonene i overflate og Interface Layers og bulk materialer gjennom Dybde Profilering med Nuclear Reaction Analysis

Automatisering av Mode Låsing i en ikke-lineær polarisering rotasjon Fiber Laser gjennom Output Polarisering Målinger

Rekombinasjon Dynamics i Thin-film Photovoltaic Materialer via Time-løst Mikrobølgeovn konduktivitet

Read Article