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Misure di vita portante in semiconduttori attraverso il metodo di deperimento di fotoconduttività a microonde
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Misure di vita portante in semiconduttori attraverso il metodo di deperimento di fotoconduttività a microonde
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April 18, 2019
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Come uno dei parametri fisici importanti nel settore dei semiconduttori, vettore vita viene misurata nel presente documento tramite un protocollo che impiegano il metodo di deperimento di fotoconduttività a microonde.
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Asada, T., Ichikawa, Y., Kato, M. Carrier Lifetime Measurements in Semiconductors through the Microwave Photoconductivity Decay Method. J. Vis. Exp. (146), e59007, doi:10.3791/59007 (2019).
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