Journal
/
Ingeniería
/
マイクロ波光伝導減衰法による半導体中のキャリア ライフ タイム測定
JoVE Revista
Ingeniería
This content is Free Access.
JoVE Revista Ingeniería
Carrier Lifetime Measurements in Semiconductors through the Microwave Photoconductivity Decay Method
Please note that all translations are automatically generated. Click here for the English version.

マイクロ波光伝導減衰法による半導体中のキャリア ライフ タイム測定

DOI:
10.3791/59007-v

•

07:38 min

•

April 18, 2019

•

, ,
1Department of Electrical & Mechanical Engineering,Nagoya Institute of Technology, 2Frontier Research Institute for Material Science,Nagoya Institute of Technology

Capítulos

  • 00:04Título
  • 00:49Preparation of the Sample and Aqueous Solutions
  • 01:44Preparation of the Measuring Equipment
  • 03:36Measurement and Data Processing
  • 05:47Results: Normalized and Calculated μ-PCD Decay Curves for the n-type 4H-SIC Sample in Air and Aqueous Solutions
  • 06:29Conclusion

Summary

Traducción Automática

Traducción Automática

半導体の重要な物理パラメーターのひとつとして、キャリアの寿命をマイクロ波光伝導減衰法を用いたプロトコル経由で本測定します。

Tags

Carrier LifetimeSemiconductorMicrowave Photoconductivity DecayMicro-PCD4H Silicon CarbideAqueous SolutionPulsed LaserPhotodiodeOscilloscopeMicrowave WaveguideSchottky Barrier DiodeGun Diode

Article

Embed

Añadir a la lista de reproducción

Usage Statistics

Videos relacionados

ウィスパリングギャラリーモード共振器に基づいたマイクロ波フォトニクスシステム

フェムト秒四光波混合を用いてのGaMnAsコヒーレンス崩壊の測定

乱れたフォトニックバンドギャップ材料のフォトニック特性を研究するためにマイクロ波誘電体固体の巨視的サンプルの使用

タンデム有機太陽電池におけるイオン的ゲーテッドカーボンナノチューブ共通カソードの生産のための周囲の方法

液体環境におけるパルスUVレーザー照射によるシリコン表面の濡れ性の選択エリア変更

追加のイグナイタずに大気圧マイクロ波プラズマトーチに点火する方法

薄膜における拡散を用いた環境プルトニウムのスペシエーションと生物学的利用能の測定

核反応分析と深さ方向分析を通じて表面・界面層とバルク材料中の水素濃度の定量

出力偏光測定を通じて非線形偏波回転ファイバレーザにおけるモードロックの自動化

時間分解マイクロ波伝導を介して、薄膜太陽電池材料での再結合ダイナミクス

Read Article