Journal
/
Engineering
/
تحسين دقة الفحص المجهري للقوة المغناطيسية والحساسية لتصور المجالات المغناطيسية النانوية
JoVE Journal
Engineering
Author Produced
A subscription to JoVE is required to view this content.  Sign in or start your free trial.
JoVE Journal Engineering
Optimizing Magnetic Force Microscopy Resolution and Sensitivity to Visualize Nanoscale Magnetic Domains
Please note that all translations are automatically generated. Click here for the English version.

تحسين دقة الفحص المجهري للقوة المغناطيسية والحساسية لتصور المجالات المغناطيسية النانوية

العربية

Automatically Generated

2,367 Views

•

07:42 min

•

July 20, 2022

DOI:

10.3791/64180-v

DOI:
10.3791/64180-v

•

07:42 min
July 20, 2022

•

19 Views
, , , ,
1Micron School of Materials Science & Engineering,Boise State University, 2Department of Physics and Astronomy,University of Delaware, 3Center for Advanced Energy Studies

Summary

Automatically generated

يستخدم مجهر القوة المغناطيسية (MFM) مسبار مجهر القوة الذرية الممغنط رأسيا لقياس تضاريس العينة وشدة المجال المغناطيسي المحلي بدقة نانوية. يتطلب تحسين الدقة المكانية والحساسية ل MFM موازنة ارتفاع الرفع المتناقص مع زيادة سعة القيادة (التذبذب) ، والاستفادة من التشغيل في صندوق قفازات في جو خامل.

Explore More Videos

Magnetic Force MicroscopyMFMNanoscaleMagnetic DomainsSpin-wave ComputingArtificial Spin IcesMagnetization TexturesHigh-resolution MFMAFM ProbeMagnetic CoatingVertically MagnetizedLaser AlignmentPosition-sensitive DetectorSample Holder

Read Article

Cite this Article

Parker, A. C., Maryon, O. O., Kaffash, M. T., Jungfleisch, M. B., Davis, P. H. Optimizing Magnetic Force Microscopy Resolution and Sensitivity to Visualize Nanoscale Magnetic Domains. J. Vis. Exp. (185), e64180, doi:10.3791/64180 (2022).

Download .ris file

Copy

Share Video

.

Copy