Co-localización de la microscopía de fuerza de la sonda Kelvin con otras microscopías y espectroscopias: aplicaciones seleccionadas en la caracterización de la corrosión de aleaciones

La microscopía de fuerza de sonda Kelvin (KPFM) mide la topografía de la superficie y las diferencias en el potencial de superficie, mientras que la microscopía electrónica de barrido (SEM) y las espectroscopias asociadas pueden dilucidar la morfología de la superficie, la composición, la cristalinidad y la orientación cristalográfica. En consecuencia, la colocalización de SEM con KPFM puede proporcionar información sobre los efectos de la composición a nanoescala y la estructura de la superficie sobre la corrosión.