This content is Free Access.
Chapters
- 00:05Introduction
- 00:42Instrument and Blotting Parameter Set-up
- 02:53Crystal Harvest Process
- 04:01Light Microscopy for Sample Density Assessment
- 04:30Scanning Electron Microscopy for Sample Assessment
- 05:38Grid Preparation for the Diffraction Experiments at VMXm
- 06:47Results: Analysis of the Microcrystals on the Grids
- 08:24Conclusion
Verilerin sinyal-gürültü oranı, mikrokristallerden X-ışını kırınım ölçümlerinin yapılmasında en önemli hususlardan biridir. VMXm kiriş çizgisi, bu tür deneyler için düşük gürültülü bir ortam ve mikrobülans sağlar. Burada, VMXm ve diğer mikro odak makromoleküler kristalografi kiriş hatları için mikrokristallerin montajı ve soğutulmasından dolayı örnek hazırlama yöntemlerini açıklıyoruz.
