Journal
/
Chemistry
/
Seguimiento de posición atómica de precisión picométrica a través de microscopía electrónica
JoVE Journal
Chemistry
Author Produced
This content is Free Access.
JoVE Journal Chemistry
Picometer-Precision Atomic Position Tracking through Electron Microscopy
Please note that all translations are automatically generated. Click here for the English version.

Seguimiento de posición atómica de precisión picométrica a través de microscopía electrónica

español

Automatically Generated

5,778 Views

•

15:04 min

•

July 03, 2021

DOI:

10.3791/62164-v

DOI:
10.3791/62164-v

•

15:04 min
July 03, 2021

•

10 Views
, , ,
1Department of Materials Science & Engineering,The Pennsylvania State University, 2Center for Nanophase Materials Sciences,Oak Ridge National Laboratory

Summary

Automatically generated

Este trabajo presenta un flujo de trabajo para el seguimiento de la posición atómica en imágenes de microscopía electrónica de transmisión de resolución atómica. Este flujo de trabajo se realiza utilizando una aplicación matlab de código abierto (EASY-STEM).

Explore More Videos

Atomic Position TrackingElectron MicroscopyAberration CorrectionSTEM ImagingAtomic ResolutionLattice StrainDefectsImage DenoisingDrift CorrectionAtom Column QuantificationOverlapping AtomsMATLAB ApplicationEasySTEM

Read Article

Cite this Article

Miao, L., Chmielewski, A., Mukherjee, D., Alem, N. Picometer-Precision Atomic Position Tracking through Electron Microscopy. J. Vis. Exp. (173), e62164, doi:10.3791/62164 (2021).

Download .ris file

Copy

Share Video

.

Copy