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Tracciamento della posizione atomica picometro-precisione attraverso la microscopia elettronica
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Picometer-Precision Atomic Position Tracking through Electron Microscopy
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Tracciamento della posizione atomica picometro-precisione attraverso la microscopia elettronica

italiano

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15:04 min

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July 03, 2021

DOI:

10.3791/62164-v

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10.3791/62164-v

•

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July 03, 2021

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1Department of Materials Science & Engineering,The Pennsylvania State University, 2Center for Nanophase Materials Sciences,Oak Ridge National Laboratory

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Questo lavoro presenta un flusso di lavoro per il tracciamento della posizione atomica nell'imaging di microscopia elettronica a trasmissione a risoluzione atomica. Questo flusso di lavoro viene eseguito utilizzando un'app Matlab open source (EASY-STEM).

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Miao, L., Chmielewski, A., Mukherjee, D., Alem, N. Picometer-Precision Atomic Position Tracking through Electron Microscopy. J. Vis. Exp. (173), e62164, doi:10.3791/62164 (2021).

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