/
/
ב מיקרוסקופ אלקטרונים שידור Situ עם הטיה והפיקה של מוטות אסימטריים המבוססים על מעורב שלבים a-VOx
A subscription to JoVE is required to view this content. Sign in or start your free trial.
Chapters
- 00:04Introduction
- 00:52Fabrication Process and Electrical Characterization
- 02:33Biasing Chip Mounting on Gridbar
- 03:14Lamella Preparation and Biasing Chip Mounting
- 06:50In Situ Transmission Electron Microscopy (TEM)
- 07:42Results: Representative In Situ Electrical TEM
- 09:04Conclusion
מוצג כאן הוא פרוטוקול לניתוח שינויים ננו במהלך הטיה situ עם מיקרוסקופ אלקטרונים שידור (TEM) עבור מבנה מתכת-מבודד-מתכת מוערם. יש לו יישומים משמעותיים נגד מיתוג מוטות מוצלבים עבור הדור הבא של מעגלי לוגיקה לתכנות וחומרה neuromimicking, כדי לחשוף את מנגנוני הפעולה הבסיסיים שלהם וישימות מעשית.
