/
/
في الموقع الإرسال المجهري الإلكتروني مع التحيز وتصنيع العارضة غير المتماثلة على أساس مختلط على مراحل A-VOx
A subscription to JoVE is required to view this content. Sign in or start your free trial.
Chapters
- 00:04Introduction
- 00:52Fabrication Process and Electrical Characterization
- 02:33Biasing Chip Mounting on Gridbar
- 03:14Lamella Preparation and Biasing Chip Mounting
- 06:50In Situ Transmission Electron Microscopy (TEM)
- 07:42Results: Representative In Situ Electrical TEM
- 09:04Conclusion
هنا هو بروتوكول لتحليل التغيرات النانوية خلال التحيز في الموقع مع المجهر الإلكتروني انتقال (TEM) لبنية معدنية مرصوفة عازلة معدنية. لديها تطبيقات كبيرة في العارضة التبديل المقاوم للجيل القادم من الدوائر المنطقية القابلة للبرمجة والأجهزة العصبية، للكشف عن آليات التشغيل الأساسية والتطبيق العملي.
