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Co-localização Kelvin Sonbe Force Microscopy com outras microscopias e espectroscopias: aplicações selecionadas na caracterização de corrosão de ligas
JoVE 신문
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Co-localizing Kelvin Probe Force Microscopy with Other Microscopies and Spectroscopies: Selected Applications in Corrosion Characterization of Alloys

Co-localização Kelvin Sonbe Force Microscopy com outras microscopias e espectroscopias: aplicações selecionadas na caracterização de corrosão de ligas

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12:18 min

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June 27, 2022

DOI:

10.3791/64102-v

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10.3791/64102-v

•

12:18 min
June 27, 2022

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1Micron School of Materials Science & Engineering,Boise State University, 2Material, Physical, and Chemical Sciences Center,Sandia National Laboratories, 3Center for Advanced Energy Studies

Summary

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A microscopia de força da sonda Kelvin (KPFM) mede a topografia de superfície e as diferenças no potencial de superfície, enquanto a microscopia eletrônica de varredura (MEV) e as espectroscopias associadas podem elucidar a morfologia, composição, cristalinidade e orientação cristalográfica da superfície. Assim, a co-localização do MEV com o KPFM pode fornecer informações sobre os efeitos da composição em nanoescala e da estrutura da superfície na corrosão.

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Kelvin Probe Force Microscopy (KPFM)Scanning Electron Microscopy (SEM)ColocalizationCorrosion CharacterizationAlloysSurface PotentialSurface TopographyMaterial StructureProperty PerformanceSample PreparationConductive PathAFM Probe

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Maryon, O. O., Efaw, C. M., DelRio, F. W., Graugnard, E., Hurley, M. F., Davis, P. H. Co-localizing Kelvin Probe Force Microscopy with Other Microscopies and Spectroscopies: Selected Applications in Corrosion Characterization of Alloys. J. Vis. Exp. (184), e64102, doi:10.3791/64102 (2022).

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