Journal
/
/
开尔文探针力显微镜与其他显微镜和光谱学共定位:合金腐蚀表征中的选定应用
JoVE 신문
공학
Author Produced
This content is Free Access.
JoVE 신문 공학
Co-localizing Kelvin Probe Force Microscopy with Other Microscopies and Spectroscopies: Selected Applications in Corrosion Characterization of Alloys

开尔文探针力显微镜与其他显微镜和光谱学共定位:合金腐蚀表征中的选定应用

2,093 Views

12:18 min

June 27, 2022

DOI:

12:18 min
June 27, 2022

4 Views
, , , , ,

Summary

Automatically generated

开尔文探针力显微镜(KPFM)测量表面形貌和表面电位差异,而扫描电子显微镜(SEM)和相关光谱可以阐明表面形态、组成、结晶度和晶体取向。因此,SEM与KPFM的共定位可以深入了解纳米级成分和表面结构对腐蚀的影响。

Read Article