Summary

Détermination de l’Excitation et le couplage des taux entre émetteurs de lumière et de la Surface plasmons Polaritons

Published: July 21, 2018
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Summary

Ce protocole décrit l’instrumentation pour la détermination de l’excitation et de tarifs entre émetteurs de lumière et de polaritons de plasmon de surface Bloch-comme découlant des tableaux périodiques de couplage.

Abstract

Nous avons développé une méthode unique pour mesurer l’excitation et le couplage des taux entre les émetteurs de lumière et la surface plasmons polaritons (SPPs) découlant des tableaux périodiques métalliques sans faire appel à des techniques de résolution temporelle. Nous avons formulé les tarifs par quantités qui peuvent être mesurées par simples mesures optiques. L’instrumentation basée sur la polarisation-résolue en angle et réflectivité et spectroscopie de photoluminescence décrira en détail ici. Notre approche est intéressante en raison de sa simplicité, qui exige l’optique systématique et plusieurs phases mécanique et est donc très abordable à la plupart des laboratoires de recherche.

Introduction

Plasmon de surface médiée par fluorescence (SPMF) a reçu beaucoup d’attention récemment1,2,3,4,5,6. Lorsque les émetteurs de lumière sont placées à proximité d’un système plasmonique, énergie peut être transférée entre les émetteurs et les polaritons de surface plasmon (SPPs). En général, les forts champs plasmoniques peuvent augmenter fortement l’excitation des émetteurs2. Dans le même temps, le taux d’émission est également augmenté en raison des densité d’États grands créés par RCR, produisant le célèbre Purcell effet3. Ces deux processus travaillent main dans la main en produisant le SPMF. SPMF a suscité de nombreuses applications dans l’éclairage à semi-conducteurs1,4,5et6de bio-detection, la récolte l’énergie il est présentement sous enquête intensive. En particulier, la connaissance des taux de transfert énergétique de la RCR aux émetteurs et vice versa, par exemple, l’excitation et le taux de couplage est d’une grande importance. Toutefois, les processus d’excitation et d’émission sont généralement enchevêtrés ensemble, étude sur cet aspect fait encore défaut. Par exemple, la plupart des études seulement de déterminer le taux de rendement d’excitation, qui compare tout simplement l’émission avec ou sans RCR7. La mesure exacte du taux d’excitation est toujours porté disparue. En revanche, classiques résolution temporelle techniques telles que la spectroscopie de fluorescence lifetime sont couramment utilisés pour étudier la dynamique du processus d’émission, mais on ne peut séparer le taux de couplage de la désintégration totale tarifaire8. Nous décrivons ici comment on peut les déterminer en combinant le modèle d’équation de taux et le mode de couplage temporel théorie9,10. Fait remarquable, nous trouvons que l’excitation et le taux de couplage peuvent être exprimées en termes de quantités mesurables, qui est accessible en effectuant la polarisation-résolue en angle et réflectivité et spectroscopie de photoluminescence. Nous avons tout d’abord décrira la formulation et puis décrire l’instrumentation en détail. Cette approche est tout à fait fréquentiel et il ne nécessite aucun accessoire résolue dans le temps comme les lasers ultra rapides et le temps-corrélé monophotonique compteurs qui sont coûteux et parfois difficile à mettre en œuvre8, 11. nous prévoyons que cette technique pour être une technologie habilitante pour déterminer l’excitation et le couplage des taux entre émetteurs de lumière et de cavités résonnantes.

Le SPMF en systèmes périodiques est informé ici. Pour un système plasmonique périodique où Bloch-comme un RCR peut être généré, autre que l’excitation directe et l’émission, qui se caractérisent par l’excitation l’efficacité η et le taux d’émission spontanée, Γr, les émetteurs peuvent être excitées par RCR entrant et la carie par RCR sortant. En d’autres termes, sous l’excitation de la résonance, SPPs entrants sont générés pour créer de puissants champs plasmoniques que dynamiser les émetteurs. Une fois que les émetteurs sont excités, énergie d’eux peut être transféré à SPPs sortants, qui par la suite radiativement dissipent à champ lointain, donnant lieu à l’émission accrue. Ils définissent SPMF. Pour les émetteurs de deux niveaux simples, l’excitation renvoie à la transition accrue d’électrons entre le sol et les états excités alors que l’émission définit la désintégration des électrons vers les États fondamentaux, accompagnées d’une émission de photon aux longueurs d’onde définie par la différence d’énergie entre les états excités et de masse. Les conditions d’excitation et d’émission pour le SPMF sont nécessaires pour atteindre la phase connue correspondant à équation pour exciter les entrants et sortants SPPs9

Equation 1(1)

où εun et εm sont les constantes diélectriques des diélectriques et le métal, θ et φ sont les angles incidents et azimutales, P est la période du tableau, λ est la longueur d’onde d’excitation et d’émission, et m et n sont des entiers spécifiant l’ordre de RCR. Pour l’excitation, le wavevector dans le plan du faisceau laser sera Bragg dispersés aux match momentum avec le RCR entrant et le θ et φ ensemble définissent la configuration spécifiée incidente pour excitant la RCR pour améliorer l’absorption électronique à la excitation d’onde λex. De même, pour l’émission, le RCR sortant sera inversement Bragg dispersés pour correspondre avec la ligne claire et les angles représentent maintenant les canaux d’émission possible à l’émission d’onde λem. Toutefois, il est à noter que comme les émetteurs peuvent accrocher leur énergie à vectoriels SPPs multiplication avec Equation 2 qui a la même grandeur Equation 3 mais des directions différentes, la RCR peut se désintégrer par l’intermédiaire de diverses combinaisons de (m, n) à l’équation suivante champ lointain (1).

En utilisant le modèle d’équation de taux et de la théorie des modes couplés temporelle (CMT), nous trouver que l’excitation taux Γex, c’est-à-dire, le taux de transfert d’énergie de RCR aux émetteurs, peut être exprimée en9,12,13

Equation 4(2)

où η est le taux susmentionnés excitation directe en l’absence de la RCR entrants, Γtot est le taux de désintégration totale de la RCR entrant Equation 5 dans lequel Γabs et Γrad sont l’absorption ohmique et taux de désexcitation radiative de RCR, et Equation 6 est le ratio de puissance de photoluminescence avec et sans les SPPs entrants. En revanche, le couplage taux Γc, c’est-à-dire, le taux de transfert d’énergie des émetteurs à un RCR, peut être écrite comme :

Equation 7(3)

où Γr est le taux d’émissions directes, Equation 8 est le ratio de puissance de photoluminescence entre αth SPP médiée par désintégration et ports directe et Γradα et Γtot sont les tarifs de désexcitation radiative pour le port deth α et le taux de décomposition totale. Nous allons voir que, alors que tous les taux de décroissance de PSP peuvent être mesurées par spectroscopie de réflectivité, le facteur de puissance d’émission peut être déterminé par spectroscopie de photoluminescence. Détails des formulations peuvent être trouvés dans référence9,10.

Protocol

1. installation de la lithographie d’interférence NOTE : Lithographie d’interférence est utilisée pour fabriquer les tableaux périodiques12. La configuration schématique, comme le montre la Figure 1, est composée comme suit : L’accent du 325 nm laser d’un laser multimode HeCd une 13 X UV lentille d’objectif et passe à travers un trou de 50 μm basée filtre spatial pour le mode de nettoyage. Placez deu…

Representative Results

Un exemple d’un tableau périodique Au est donné dans l’encart de la Figure 4 a8. L’image d’affichage SEM plan montre que l’échantillon est un tableau de trou circulaire de treillis carré 2D avec une période de 510 nm, à une profondeur de trou de 280 nm et un diamètre de 140 nm. Le mappage de réflectivité polarisation p pris le long de la direction de Γ-X est illustré à la Figure 4 a. …

Discussion

Dans ce protocole, il y a plusieurs étapes cruciales. Tout d’abord, mécanique stabilité est cruciale dans la préparation de l’échantillon. Les ondes stationnaires générées par le programme d’installation de Lloyd est sensible à la différence de phase entre deux faisceaux d’éclairage. Par conséquent, toute vibration pendant le temps d’exposition se dégradera l’uniformité et la netteté des bords de la nanohole. Il est fortement recommandé d’opérer dans un environnement exempt de vibrations, <…

Disclosures

The authors have nothing to disclose.

Acknowledgements

Cette recherche a été financée par l’Université chinoise de Hong Kong par le biais de la 4053077 de subventions directes et 4441179, RGC affectés recherche subventions concurrentielles, 402812 et 14304314 et zone d’Excellence AoE/P-02/12.

Materials

SU-8 MicroChem SU-8 2000.5
Adhesion solution MicroChem Omnicoat
SU-8 Thinner (Gamma-Butyrolactone) MicroChem SU-8 2000 Thinner
SU-8 Developer MicroChem SU-8 Developer
Spin Coater Chemat Technology KW-4A
HeCd laser KIMMON KOHA CO., LTd IK3552R-G
Shutter Thorlabs SH05
Objective for sample preparation Newport U-13X
Pinhole Newport PNH-50
Iris Newport M-DI47.50
Prism Thorlabs PS611
Rotation stage for sample preparation Newport 481-A
Supttering Deposition System Homemade
Rotation Stage 1 Newport URM80ACC
Rotation Stage 2 Newport RV120PP
Rotation Stage 3 Newport SR50PP
Detection arm Homemade
Quartz lamp Newport 66884
Fiber Bundle Newport 77578
Objective for measurement Newport M-5X & M-60X
Polarizer & Analyzer Thorlabs GT15
Multimode Fiber Thorlabs BFL105LS02
Spectrometer Newport MS260i
CCD Andor DV420-OE
514nm Argon Ion Laser Spectra-Physics 177-G01
633nm HeNe Laser Newport R-32413
CdSeTe quantum dot Thermo Fisher Scientific q21061mp
Polyvinyl alcohol polymer (PVA) SIGMA-ALDRICH 363073
Control program National Instruments LabVIEW

References

  1. Okamoto, K., et al. Surface-plasmon-enhanced light emitters based on InGaN quantum wells. Nature Materials. 3 (9), 601-605 (2004).
  2. Akselrod, G. M., et al. Leveraging Nanocavity Harmonics for Control of Optical Processes in 2D Semiconductors. Nano Letters. 15 (5), 3578-3584 (2015).
  3. Gontijo, I., et al. Coupling of InGaN quantum-well photoluminescence to silver surface plasmons. Physical Review B. 60 (16), 11564 (1999).
  4. Huang, K. C. Y., et al. Antenna electrodes for controlling electroluminescence. Nature Communications. 3, 1005 (2012).
  5. Atwater, H. A., Polman, A. Plasmonics for improved photovoltaic devices. Nature Materials. 9 (3), 205-213 (2010).
  6. Anker, J. N., et al. Biosensing with plasmonic nanosensors. Nature Materials. 7 (6), 442-453 (2008).
  7. Chen, Y., et al. Excitation enhancement of CdSe quantum dots by single metal nanoparticles. Applied Physics Letters. 93 (5), 053106 (2008).
  8. Birowosuto, M. D., Skipetrov, S. E., Vos, W. L., Mosk, A. P. Observation of Spatial Fluctuations of the Local Density of States in Random Photonic Media. Physical Review Letters. 105 (1), 013904 (2010).
  9. Cao, Z. L., Ong, H. C. Determination of coupling rate of light emitter to surface plasmon polaritons supported on nanohole array. Applied Physics Letters. 102 (24), 241109 (2013).
  10. Lin, M., Cao, Z. L., Ong, H. C. Determination of the excitation rate of quantum dots mediated by momentum-resolved Bloch-like surface plasmon polaritons. Optics Express. 25 (6), 6029-6103 (2017).
  11. Nikolaev, I. S., Lodahl, P., Driel, A. F. V., Koenderink, A. F., Vos, W. L. Strongly nonexponential time-resolved fluorescence of quantum-dot ensembles in three-dimensional photonic crystals. Physical Review B. 75 (11), 115302 (2007).
  12. Cao, Z. L., Lo, H. Y., Ong, H. C. Determination of absorption and radiative decay rates of surface plasmon polaritons from nanohole array. Optics Letters. 37 (24), 5166-5168 (2012).
  13. Haus, H. A. . Waves and Fields in Optoelectronics. , (1984).

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Cite This Article
Cao, Z., Lin, M., Ong, D. Determination of the Excitation and Coupling Rates Between Light Emitters and Surface Plasmon Polaritons. J. Vis. Exp. (137), e56735, doi:10.3791/56735 (2018).

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