ジャーナル
/
工学
/
Атомного зонда томографии Исследования по Cu (In, Ga) Se<sub> 2</sub> Границам зерен
JoVE Journal
工学
このコンテンツを視聴するには、JoVE 購読が必要です。  サインイン又は無料トライアルを申し込む。
JoVE Journal 工学
Atom Probe Tomography Studies on the Cu(In,Ga)Se2 Grain Boundaries
Please note that all translations are automatically generated. Click here for the English version.

Атомного зонда томографии Исследования по Cu (In, Ga) Se<sub> 2</sub> Границам зерен

12,573 Views

•

09:51 min

•

April 22, 2013

DOI:

10.3791/50376-v

DOI:
10.3791/50376-v

•

09:51 min
April 22, 2013

•

1 Views
, , , , ,
1Department of Microstructure Physics and Alloy Design,Max-Planck-Institut für Eisenforschung GmbH, 2Zentrum für Sonnenenergie- und Wasserstoff-Forschung Baden-Württemberg ( ZSW )

概要

Automatically generated

В этой работе мы описываем использование атома-зонда томографии аппарат для изучения границ зерен поглощающий слой в CIGS солнечной батареи. Новый подход к подготовке атом зонды, содержащие желаемый границ зерен с известной структурой, также представлены здесь.

Explore More Videos

Atom Probe TomographyCu(InGa)Se2Grain BoundariesNanoscale CharacterizationSite-specific Sample PreparationFocused-ion-beamElectron Backscatter DiffractionTransmission Electron MicroscopyThin-film Solar Cells

Read Article

Cite this Article

Cojocaru-Mirédin, O., Schwarz, T., Choi, P., Herbig, M., Wuerz, R., Raabe, D. Atom Probe Tomography Studies on the Cu(In,Ga)Se2 Grain Boundaries. J. Vis. Exp. (74), e50376, doi:10.3791/50376 (2013).

Download .ris file

Copy

Share Video

.

Copy