ジャーナル
/
工学
/
ذرة دقق دراسات التصوير المقطعي على النحاس (IN، جا) سي<sub> 2</sub> حدود الحبوب
JoVE Journal
工学
このコンテンツを視聴するには、JoVE 購読が必要です。  サインイン又は無料トライアルを申し込む。
JoVE Journal 工学
Atom Probe Tomography Studies on the Cu(In,Ga)Se2 Grain Boundaries
Please note that all translations are automatically generated. Click here for the English version.

ذرة دقق دراسات التصوير المقطعي على النحاس (IN، جا) سي<sub> 2</sub> حدود الحبوب

12,573 Views

•

09:51 min

•

April 22, 2013

DOI:

10.3791/50376-v

DOI:
10.3791/50376-v

•

09:51 min
April 22, 2013

•

1 Views
, , , , ,
1Department of Microstructure Physics and Alloy Design,Max-Planck-Institut für Eisenforschung GmbH, 2Zentrum für Sonnenenergie- und Wasserstoff-Forschung Baden-Württemberg ( ZSW )

概要

Automatically generated

في هذا العمل، ونحن تصف استخدام تقنية التصوير المقطعي ذرة مسبار لدراسة حدود الحبوب من طبقة امتصاص في الخلايا الشمسية CIGS. يتم تقديم وسيلة جديدة لإعداد التحقيق نصائح ذرة تحتوي على حدود الحبوب المطلوب مع هيكل المعروف أيضا هنا.

Explore More Videos

Atom Probe TomographyCu(InGa)Se2Grain BoundariesNanoscale CharacterizationSite-specific Sample PreparationFocused-ion-beamElectron Backscatter DiffractionTransmission Electron MicroscopyThin-film Solar Cells

Read Article

Cite this Article

Cojocaru-Mirédin, O., Schwarz, T., Choi, P., Herbig, M., Wuerz, R., Raabe, D. Atom Probe Tomography Studies on the Cu(In,Ga)Se2 Grain Boundaries. J. Vis. Exp. (74), e50376, doi:10.3791/50376 (2013).

Download .ris file

Copy

Share Video

.

Copy