Journal
/
Ingénierie
/
Sub-nanometer Resolution Imaging met amplitude-modulatie Atomic Force Microscopy in Liquid
Journal JoVE
Ingénierie
This content is Free Access.
Journal JoVE Ingénierie
Sub-nanometer Resolution Imaging with Amplitude-modulation Atomic Force Microscopy in Liquid
Please note that all translations are automatically generated. Click here for the English version.

Sub-nanometer Resolution Imaging met amplitude-modulatie Atomic Force Microscopy in Liquid

DOI:
10.3791/54924-v

•

10:25 min

•

December 20, 2016

•

, , , , ,
1Physics Department,Durham University

Chapitres

  • 00:05Titre
  • 00:59Equipment and Substrate Preparation
  • 02:39Cantilever and Tip Preparation
  • 03:22Set-up of AFM Cell and Cantilever Calibration
  • 04:27Approach and Initial Check of the Sample
  • 06:31High-resolution Imaging
  • 08:09Results: Sub-nanometer Resolution Imaging of Soft and Stiff Samples
  • 09:18Conclusion

Summary

Traduction automatique

Traduction automatique

We presenteren een methode voor het bereiken van sub-nanometer resolutie beelden met amplitude-modulatie (tapping mode) atomic force microscopy in vloeistof. De methode wordt gedemonstreerd op de commerciële atomic force microscopen. We leggen de grondgedachte achter onze keuzes van de parameters en suggereren strategieën voor het oplossen van optimalisatie.

Tags

Sub-nanometer ResolutionAmplitude-modulation Atomic Force MicroscopyLiquidHigh Resolution ImagingCommercial AFMTapping ModeSample PreparationCleaningMica SubstrateEpoxy GlueAdhesive Tape

Article

Embed

AJOUTER À LA PLAYLIST

Usage Statistics

Vidéos Connexes

High-resolution, High-speed, Three-dimensional Video Imaging with Digital Fringe Projection Techniques

Atomic Force Microscopy van Red-Light Fotoreceptoren behulp PeakForce Kwantitatieve Nanomechanical Property Mapping

Onderzoekt Single Molecule Hechting van Atomic Force Spectroscopie

Dynamische Pore schaal Reservoir voorwaarde beeldvorming van Reaction in carbonaten met synchrotron Fast Tomography

Licht-geïnduceerde in situ transmissie elektronenmicroscopie voor observatie van de interactie tussen vloeistof en zachte materie

Co-lokalisatie kelvin probe force microscopie met andere microscopieën en spectroscopieën: geselecteerde toepassingen in corrosiekarakterisering van legeringen

Magnetische krachtmicroscopieresolutie en -gevoeligheid optimaliseren om magnetische domeinen op nanoschaal te visualiseren

Atomic Force Microscopy Cantilever-Based Nanoindentation: Mechanische eigenschapsmetingen op nanoschaal in lucht en vloeistof

Active Probe Atomic Force Microscopy with Quattro-Parallel Cantilever Arrays for High-Throughput Large-Scale Sample Inspection

Ontwikkeling van een bio-hybride Mosquito Stinger-gebaseerde atoomkrachtmicroscopiesonde

Read Article