Journal
/
/
Субнанометровым Resolution Imaging с амплитудной модуляцией атомно-силовой микроскопии в жидком
Journal JoVE
Ingénierie
This content is Free Access.
Journal JoVE Ingénierie
Sub-nanometer Resolution Imaging with Amplitude-modulation Atomic Force Microscopy in Liquid
DOI:

10:25 min

December 20, 2016

, , , , ,

Chapitres

  • 00:05Titre
  • 00:59Equipment and Substrate Preparation
  • 02:39Cantilever and Tip Preparation
  • 03:22Set-up of AFM Cell and Cantilever Calibration
  • 04:27Approach and Initial Check of the Sample
  • 06:31High-resolution Imaging
  • 08:09Results: Sub-nanometer Resolution Imaging of Soft and Stiff Samples
  • 09:18Conclusion

Summary

Traduction automatique

Мы представляем способ достижения разрешения изображения субнанометровым с (режим кратковременного нажатия) амплитудной модуляции атомно-силовой микроскопии в жидкости. Метод демонстрируется на коммерческих атомных силовых микроскопов. Поясним обоснование позади нашего выбора параметров и предложить стратегии для оптимизации разрешения.

Vidéos Connexes

Read Article