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액체의 진폭 변조 원자 힘 현미경과 서브 나노 미터 해상도 이미징
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Sub-nanometer Resolution Imaging with Amplitude-modulation Atomic Force Microscopy in Liquid
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액체의 진폭 변조 원자 힘 현미경과 서브 나노 미터 해상도 이미징

DOI:
10.3791/54924-v

•

10:25 min

•

December 20, 2016

•

, , , , ,
1Physics Department,Durham University

Chapitres

  • 00:05Titre
  • 00:59Equipment and Substrate Preparation
  • 02:39Cantilever and Tip Preparation
  • 03:22Set-up of AFM Cell and Cantilever Calibration
  • 04:27Approach and Initial Check of the Sample
  • 06:31High-resolution Imaging
  • 08:09Results: Sub-nanometer Resolution Imaging of Soft and Stiff Samples
  • 09:18Conclusion

Summary

Traduction automatique

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우리는 액체 내에서 진폭 변조 (탭핑 모드) 원 자간 력 현미경으로 나노 미터 이하 해상도의 이미지를 달성하기위한 방법을 제시한다. 이 방법은 상용 원 자간 력 현미경에 설명된다. 우리는 매개 변수의 우리의 선택 뒤에 이론적 근거를 설명하고 해상도 최적화를위한 전략을 제안한다.

Tags

Sub-nanometer ResolutionAmplitude-modulation Atomic Force MicroscopyLiquidHigh Resolution ImagingCommercial AFMTapping ModeSample PreparationCleaningMica SubstrateEpoxy GlueAdhesive Tape

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