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Sub-Nanometer Auflösung Belichtung mit Amplituden-Modulation der Rasterkraftmikroskopie in Liquid
Journal JoVE
Ingénierie
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Journal JoVE Ingénierie
Sub-nanometer Resolution Imaging with Amplitude-modulation Atomic Force Microscopy in Liquid

Sub-Nanometer Auflösung Belichtung mit Amplituden-Modulation der Rasterkraftmikroskopie in Liquid

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10:25 min

December 20, 2016

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December 20, 2016

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Wir präsentieren ein Verfahren zum Erreichen einer Sub-Nanometer Auflösung Bilder mit Amplituden-Modulation (Tapping-Modus) Rasterkraftmikroskopie in Flüssigkeit. Das Verfahren ist auf kommerzielle Atomkraftmikroskope demonstriert. Wir erläutern die Gründe für unsere Entscheidungen von Parametern und schlagen Strategien zur Auflösung Optimierung.

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