/
/
توصيف المقياس النانوي للواجهات السائلة الصلبة عن طريق اقتران طحن الحزمة الأيونية المركزة على التبريد مع المجهر الإلكتروني الماسح والتحليل الطيفي
A subscription to JoVE is required to view this content. Sign in or start your free trial.
3,220 Views
•
11:03 min
•
July 14, 2022
DOI:
Summary
Automatically generated
يمكن أن توفر تقنيات شعاع الأيونات المركزة المبردة (FIB) والمجهر الإلكتروني الماسح (SEM) رؤى رئيسية في كيمياء ومورفولوجيا الواجهات الصلبة السائلة السليمة. يتم تفصيل طرق إعداد خرائط طيفية عالية الجودة للأشعة السينية المشتتة للطاقة (EDX) لهذه الواجهات ، مع التركيز على أجهزة تخزين الطاقة.
Read Article
Cite this Article
Moon, T., Colletta, M., Kourkoutis, L. F. Nanoscale Characterization of Liquid-Solid Interfaces by Coupling Cryo-Focused Ion Beam Milling with Scanning Electron Microscopy and Spectroscopy. J. Vis. Exp. (185), e61955, doi:10.3791/61955 (2022).
Copy