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Quantifizierung der Fluoreszenz Röntgendaten mit MAPS
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Quantifying X-Ray Fluorescence Data Using MAPS
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Quantifizierung der Fluoreszenz Röntgendaten mit MAPS

DOI:
10.3791/56042-v

•

14:58 min

•

February 17, 2018

•

, , , , ,
1School for Engineering of Matter, Transport, and Energy,Arizona State University, 2School of Electrical, Computer, and Energy Engineering,Arizona State University, 3Advanced Photon Source,Argonne National Laboratory

Chapters

  • 00:00Title
  • 03:13Run the Fitting
  • 10:03Run the Fitting
  • 12:05Results
  • 14:02Conclusion

Summary

Automatic Translation

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Hier zeigen wir den Einsatz der Röntgen-Fluoreszenz-Anpass-Software, Karten, vom Argonne National Laboratory für die Quantifizierung der Fluoreszenz-Mikroskopie-Daten erstellt. Die quantifizierten Daten ist hilfreich für das Verständnis der elementaren Verteilung und stöchiometrischen Verhältnisse innerhalb einer Stichprobe von Interesse.

Tags

X-ray FluorescenceQuantificationMAPSSynchrotronElemental SegregationStoichiometryClusteringAerial MassesIDL SoftwareArgonne National LaboratoryFittingMaps Fit Parameters Override.txtMaps Settings.txtMdaAXO StandardNIST Standard

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