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Optimizing Magnetic Force Microscopy Resolution and Sensitivity to Visualize Nanoscale Magnetic Domains
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Optimización de la resolución y sensibilidad de la microscopía de fuerza magnética para visualizar dominios magnéticos a nanoescala

DOI:
10.3791/64180-v

•

07:42 min

•

July 20, 2022

•

, , , ,
1Micron School of Materials Science & Engineering,Boise State University, 2Department of Physics and Astronomy,University of Delaware, 3Center for Advanced Energy Studies

Capítulos

  • 00:04Introduction
  • 01:00MFM Probe Preparation and Installation
  • 02:35Sample Preparation, Installation, and Sample Approach
  • 03:27Topography Imaging
  • 04:33MFM Imaging
  • 06:23Results: MFM Imaging of Magnetic Twin Boundaries in a Single Crystal Ni-Mn-Ga Sample
  • 06:58Conclusion

Summary

Tadução automática

Tadução automática

La microscopía de fuerza magnética (MFM) emplea una sonda de microscopía de fuerza atómica magnetizada verticalmente para medir la topografía de la muestra y la intensidad del campo magnético local con resolución a nanoescala. La optimización de la resolución espacial y la sensibilidad de las máquinas digitales multifuncionales requiere equilibrar la disminución de la altura de elevación con el aumento de la amplitud de la unidad (oscilación), y se beneficia de operar en una guantera de atmósfera inerte.

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Magnetic Force MicroscopyMFMNanoscaleMagnetic DomainsSpin-wave ComputingArtificial Spin IcesMagnetization TexturesHigh-resolution MFMAFM ProbeMagnetic CoatingVertically MagnetizedLaser AlignmentPosition-sensitive DetectorSample Holder

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