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Journal
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Química
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通过电子显微镜进行精确原子位置跟踪
JoVE Journal
Química
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This content is Free Access.
JoVE Journal
Química
Picometer-Precision Atomic Position Tracking through Electron Microscopy
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Click here for the English version.
通过电子显微镜进行精确原子位置跟踪
DOI:
10.3791/62164-v
•
15:04 min
•
July 03, 2021
•
Leixin Miao
,
Adrian Chmielewski
,
Debangshu Mukherjee
,
Nasim Alem
1
Department of Materials Science & Engineering
,
The Pennsylvania State University
,
2
Center for Nanophase Materials Sciences
,
Oak Ridge National Laboratory
Capítulos
00:00
Introduction
01:23
Acquiring High-Quality Annular Dark Field (ADF)/ Annular Bright Field (ABF) STEM Images
09:17
Physical Information Extraction
12:22
Representative Results
14:41
Conclusion
Summary
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Tadução automática
这项工作为原子分辨率传输电子显微镜成像中的原子位置跟踪提供了工作流程。此工作流使用开源马特拉布应用程序 (EASY-STEM) 执行。
Tags
Atomic Position Tracking
Electron Microscopy
Aberration Correction
STEM Imaging
Atomic Resolution
Lattice Strain
Defects
Image Denoising
Drift Correction
Atom Column Quantification
Overlapping Atoms
MATLAB Application
EasySTEM
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