Journal
/
Química
/
Пикометрическое точное отслеживание положения атомов с помощью электронной микроскопии
JoVE Journal
Química
Author Produced
This content is Free Access.
JoVE Journal Química
Picometer-Precision Atomic Position Tracking through Electron Microscopy
Please note that all translations are automatically generated. Click here for the English version.

Пикометрическое точное отслеживание положения атомов с помощью электронной микроскопии

5,704 Views

•

15:04 min

•

July 03, 2021

DOI:

10.3791/62164-v

DOI:
10.3791/62164-v

•

15:04 min
July 03, 2021

•

10 Views
, , ,
1Department of Materials Science & Engineering,The Pennsylvania State University, 2Center for Nanophase Materials Sciences,Oak Ridge National Laboratory

Summary

Automatically generated

В данной работе представлен рабочий процесс для отслеживания положения атомов в электронной микроскопии с пропускания атомного разрешения. Этот рабочий процесс выполняется с помощью приложения Matlab с открытым исходным кодом (EASY-STEM).

Explore More Videos

Atomic Position TrackingElectron MicroscopyAberration CorrectionSTEM ImagingAtomic ResolutionLattice StrainDefectsImage DenoisingDrift CorrectionAtom Column QuantificationOverlapping AtomsMATLAB ApplicationEasySTEM

Read Article

Cite this Article

Miao, L., Chmielewski, A., Mukherjee, D., Alem, N. Picometer-Precision Atomic Position Tracking through Electron Microscopy. J. Vis. Exp. (173), e62164, doi:10.3791/62164 (2021).

Download .ris file

Copy

Share Video

.

Copy