Carrier Lifetime Measurements in Semiconductors through the Microwave Photoconductivity Decay Method

00:04Título
00:49Preparation of the Sample and Aqueous Solutions
01:44Preparation of the Measuring Equipment
03:36Measurement and Data Processing
05:47Results: Normalized and Calculated μ-PCD Decay Curves for the n-type 4H-SIC Sample in Air and Aqueous Solutions
06:29Conclusion

Summary

Tadução automática

Som en av de viktiga fysiska parametrarna i halvledare mäts transportören livstid häri via ett protokoll som sysselsätter metoden mikrovågsugn photoconductivity förfall.

Carrier livstid mätningar i halvledare via metoden mikrovågsugn Photoconductivity förfall

•

•

•

Capítulos

Summary

Tadução automática

Tags

Article

Embed

ADICIONAR À PLAYLIST

Usage Statistics

Vídeos Relacionados

Mikrovågsfotonik Systems Baserat på Whispering-gallery-läge resonatorer

Measurement of Coherence Decay in GaMnAs Using Femtosecond Four-wave Mixing

Använda mikrovågsugn och Makroskopiska Prover av Dielektriska Solids att Studera Fotoniska egenskaper Oordnade Photonic bandgap

Omgivande Sätt för framställning av ett joniskt Gated Nanorör Common Cathode i Tandem organiska solceller

Selektiv Area Ändring av Silicon ytvätbarhet av pulsad UV laserstrålning i flytande miljö

Hur Ignite ett atmosfärstryck Mikrovågsugn Plasma Torch utan ytterligare Tändstiften

Speciering och biotillgänglighet Mätningar av miljö Plutonium Använda Diffusion i Thin Films

Kvantifiering av vätgaskoncentrationer i Surface och gränssnitts Lager och strömaterial genom djupprofilering med kärnreaktionen Analys

Automatisering av Läge Låsning i en Nonlinear polariseringsrotation Fiber Laser genom utgångs Polarisering Mätningar

Rekombination Dynamics i Tunnfilms solceller material via tidsupplöst Microwave Konduktivitet

Read Article