Journal
/
Engenharia
/
Portador de por vida medidas en semiconductores a través del método de decaimiento de fotoconductividad de microondas
JoVE Journal
Engenharia
This content is Free Access.
JoVE Journal Engenharia
Carrier Lifetime Measurements in Semiconductors through the Microwave Photoconductivity Decay Method
Please note that all translations are automatically generated. Click here for the English version.

Portador de por vida medidas en semiconductores a través del método de decaimiento de fotoconductividad de microondas

DOI:
10.3791/59007-v

•

07:38 min

•

April 18, 2019

•

, ,
1Department of Electrical & Mechanical Engineering,Nagoya Institute of Technology, 2Frontier Research Institute for Material Science,Nagoya Institute of Technology

Capítulos

  • 00:04Título
  • 00:49Preparation of the Sample and Aqueous Solutions
  • 01:44Preparation of the Measuring Equipment
  • 03:36Measurement and Data Processing
  • 05:47Results: Normalized and Calculated μ-PCD Decay Curves for the n-type 4H-SIC Sample in Air and Aqueous Solutions
  • 06:29Conclusion

Summary

Tadução automática

Tadução automática

Como uno de los parámetros físicos importantes en semiconductores, vida de portador se mide aquí mediante un protocolo que emplea el método de decaimiento de fotoconductividad de microondas.

Tags

Carrier LifetimeSemiconductorMicrowave Photoconductivity DecayMicro-PCD4H Silicon CarbideAqueous SolutionPulsed LaserPhotodiodeOscilloscopeMicrowave WaveguideSchottky Barrier DiodeGun Diode

Article

Embed

ADICIONAR À PLAYLIST

Usage Statistics

Vídeos Relacionados

Microondas Fotónica sistemas basados ​​en resonadores-gallery-mode Whispering

La medición de la coherencia Decay en GaMnAs Usando Femtosecond onda Cuatro Mezcla

El uso de microondas y muestras macroscópicas de dieléctricos sólidos para estudiar las propiedades fotónicas de desordenados Fotónicas materiales de banda prohibida

Método ambiente para la producción de un cátodo común iónicamente cerrada nanotubos de carbono en las células solares en tándem Orgánica

Área selectivo Modificación de humectabilidad de la superficie del silicio por pulsos láser UV irradiación en Ambiente Líquido

Cómo Encender una presión atmosférica de microondas de la antorcha de plasma sin ningún Encendedores adicionales

Especiación y biodisponibilidad mediciones de plutonio Ambiental Uso de Difusión en Thin Films

La cuantificación de las concentraciones de hidrógeno en superficies e interfaces de capas y materiales a granel a través de perfiles de profundidad con el análisis de Reacción nuclear

Automatización de modo de bloqueo de rotación en un láser de fibra no lineal de polarización a través de mediciones de polarización de salida

La recombinación Dinámica de capa fina en materiales fotovoltaicos a través de conductividad de microondas resuelta en el tiempo

Read Article