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-Sonda de varredura único elétron Espectroscopia de capacitância
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Scanning-probe Single-electron Capacitance Spectroscopy

-Sonda de varredura único elétron Espectroscopia de capacitância

DOI:

10:53 min

July 30, 2013

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Capítulos

  • 00:05Título
  • 01:57Microscope Setup, Preparation, and Mounting of the High Electron Mobility Transistor Circuit
  • 06:37Capacitance Mode Measurements
  • 08:05Results: Scanning Charge Accumulation and Capacitance-voltage Spectroscopy of Doped Semiconductors
  • 10:17Conclusion

Summary

Tadução automática

Espectroscopia de capacitância de um único elétron-sonda de digitalização facilita o estudo do movimento de um único elétron em regiões subterrâneas localizadas. Um circuito de detecção de carga sensível é incorporado numa sonda de digitalização criogénico microscópio para investigar pequenos sistemas de átomos dopantes sob a superfície das amostras de semicondutores.

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