Waiting
Processando Login

Trial ends in Request Full Access Tell Your Colleague About Jove
Journal / Engineering / Karakterisering av ytmodifieringar av White Light …
JoVE Journal
Engineering

É necessário ter uma assinatura JoVE para assistir este Faça login ou comece sua avaliação gratuita.

JoVE Journal Engineering
Karakterisering av ytmodifieringar av White Light interferometri
 
Click here for the English version

Karakterisering av ytmodifieringar av White Light interferometri: tillämpningar Ion sputtring, laserablation, och tribologi Experiment

Article DOI: 10.3791/50260-v • 11:47 min • February 27th, 2013
February 27th, 2013 •
1, 2, 3, 1, 1, 1
1Materials Science Division, Argonne National Laboratory, 2Energy Systems Division, Argonne National Laboratory, 3MassThink LLC

Capítulos

Resumo
Automatic Translation

Please note that all translations are automatically generated.

Click here for the English version.

Vitt ljus mikroskop interferometry är en optisk, kontaktfria och snabb metod för att mäta topografin av ytor. Det visas hur metoden kan tillämpas mot mekaniskt slitage analys där bär ärr på tribologiska proverna analyseras, och i materialvetenskap bestämma jonstråle sputtring eller laser volymer ablation och djup.

Tags

Materialvetenskap fysik jonstrålar (nukleära interaktioner) ljusreflektion optiska egenskaper halvledare White Light interferometri Ion sputtring laserablation Laser femtosecond Djup profilering Time-of-flight masspektrometri Tribologi Bär Analys Optisk profilometri slitage friktion atomkraftsmikroskopi AFM svepelektronmikroskopi SEM bildbehandling visualisering
Read Article

Get cutting-edge science videos from JoVE sent straight to your inbox every month.

Waiting X
Simple Hit Counter