Wit licht microscoop interferometrie is een optische, contactloze en snelle methode voor het meten van de topografie van oppervlakken. Wordt getoond hoe de werkwijze kan worden toegepast in de richting mechanische slijtage analyse, waarbij slijtage littekens tribologische monsters worden geanalyseerd en in materiaalkunde om ionen sputteren of laserablatie volumes en diepte bepalen.

Karakterisering van Surface Wijzigingen door Wit Licht Interferometrie: Toepassingen in Ion sputteren, Laser Ablatie en Tribologie Experimenten

•

•

•

Capítulos

Summary

Tadução automática

Tags

Article

Embed

ADICIONAR À PLAYLIST

Usage Statistics

Vídeos Relacionados

Karakterisering van elektrode materialen voor lithium-ion en Natrium ion accu's met synchrotron straling Technieken

Selectieve Area Wijziging van Silicon Surface Bevochtigbaarheid door Pulsed UV Laser bestraling in Liquid Milieu

Compact Lens-less Digitale Holografische Microscoop voor MEMS Inspectie en karakterisering

Printing Fabrication van Bulk Heterojunction Solar Cells en<em> In Situ</em> Morfologie karakterisering

Fabricage van White Light-emitting elektrochemische cellen met Stable Emissie van Exciplexes

Fabricage van Polymer Microsferen voor Optische Resonator en Laser Applicaties

Experimentele methoden voor het overlappen van ionen met Microfabricated oppervlak Ion Traps

Productie en karakterisering van vacuüm gestort Organic Light Emitting Diodes

Bepaling van de excitatie en koppeling tussen licht vervuilers en oppervlakte Plasmon Polaritons

De Amplitude en fase van laserstralen vormgeven met behulp van een alleen-fase ruimtelijke lichtmodulator

Read Article