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Ion Beam centrada Fresagem e Microscopia Eletrônica de Varredura do Tecido Cerebral
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JoVE Journal Neurociência
Focussed Ion Beam Milling and Scanning Electron Microscopy of Brain Tissue

Ion Beam centrada Fresagem e Microscopia Eletrônica de Varredura do Tecido Cerebral

DOI:
10.3791/2588-v

•

08:57 min

•

July 06, 2011

•

, ,
1Centre of interdisciplinary electron microscopy,École Polytechnique Fédérale de Lausanne

Capítulos

  • 00:05Título
  • 01:29Sample Fixation and Resin Embedding
  • 04:00Preparing the Sample for the FIB/SEM
  • 05:55Imaging the FIB/SEM
  • 08:03Results: FIB/SEM Images of Brain Tissue
  • 08:40Conclusion

Summary

Tadução automática

Tadução automática

Este protocolo descreve como resina de tecido cerebral incorporado pode ser preparada e fotografada nas três dimensões do feixe de íons focalizado, microscópio eletrônico de varredura.

Tags

Focussed Ion Beam MillingScanning Electron MicroscopyFIB/SEM ProtocolAldehydes FixationHeavy Metal StainingOsmium TetroxideUranyl AcetateDehydrationResin InfiltrationUltramicrotomeGlass KnivesBlock PreparationVertical Face MillingBackscattered Electron ImagingSerial ImagingIsotropic VoxelsCell Ultrastructure Analysis

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